[实用新型]一种测试芯片供电电源可靠性的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及可靠性检测技术，特别涉及一种测试芯片供电电源可靠性的装置。

背景技术

可靠性测试在产品研发过程中占据重要的地位，可靠性测试健全与否很大程度上决定了研发产品的稳定性与可靠性。研发产品系统中，最重要的电源部分是可靠性测试中重点关注的测试项目。在电源部分的可靠性测试中，通常需要重点关注电源容限、芯片供电电源的薄弱点等。为了提高系统可靠性，常常需要对电子产品系统做一些可靠性测试，从而验证产品在极端的工作条件下是否具备可靠性与稳定性。而芯片供电电源作为系统的核心部分，其电源的稳定性和健壮性直接影响系统的稳定性。因此业界在研发测试阶段通常需要对系统进行单板可靠性测试，具体可以为对单板电源进行拉偏，通过拉低芯片供电电压来验证系统对电源波动的敏感度、验证系统在电源方面的可靠性。

目前业界常用的方法是降低整个系统电压来验证芯片供电电压对波动的敏感度和系统的可靠性，通过调低DC-DC（直流-直流）电源、LDO（低压差稳压器）电源的电压幅值来降低整个系统的电压，从而验证系统在哪个电压值会出现问题。但系统上的DCDC电源、LDO电源一般都不会单独供电给某个芯片，这样有以下几个方面的问题：

(1)不能单独对芯片供电电源进行可靠性测试：由于系统的电源是非单独供电的，而且芯片可能同时存在多个供电电源，因此无法单独对芯片进行供电电源的可靠性测试；

(2)不能保证系统对电源的整体可靠性：由于系统电源存在供电给多个芯片的可能，那么，通过调低电压的方法就存在验证到最薄弱环节的芯片供电电源，而第二薄弱以及其他较为薄弱的芯片供电电源是无法验证到的，而单板可靠性测试的原则是找出系统的每一个薄弱的环节。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题，就是提供一种测试芯片供电电源可靠性的装置，可以方便的测试每个芯片供电电源的可靠性，找出芯片供电的薄弱环节。

本实用新型解决所述技术问题，采用的技术方案是，一种测试芯片供电电源可靠性的装置，所述装置串接在芯片供电回路上，其特征在于，所述装置包括用于连接芯片供电引脚的第一触点、用于连接供电电源的第二触点、用于降低电压的衰减器，所述衰减器安装在基板上，其引脚分别与第一触点和第二触点电连接。

所述衰减器由电感构成。

所述电感为磁珠电感。

所述衰减器由电阻构成。

所述衰减器由电阻和电感串联构成。

所述电阻为可变电阻。

所述可变电阻为线性可变电阻。

所述线性可变电阻阻值范围为0～1kΩ。

所述述基板为印刷电路板。

所述第一触点和第二触点具有弹性结构。

本实用新型的有益效果是，能够单独对每个芯片供电电源进行电源可靠性测试，找出芯片供电电源的薄弱点。可以定量的验证系统对电压波动的敏感性，保证系统的整体的可靠性。

附图说明

图1是实施例1的结构示意图；

图2是实施例2的结构示意图。

具体实施方式

本实用新型的装置在进行测试前，需要对芯片供电电流进行测量，常规的测量方法是，确认芯片供电引脚是否经过串接的元器件，比如电阻、磁珠电感、保护器等与电源连接，如果没有这些串联的元器件，就将芯片供电电源线路的铜层割开，切断。测试芯片供电电源的电流值，可以通过串接导线的方式测试经过导线的电流值，以确认芯片供电电源的电流值。不管芯片供电电源是否经过串接的元器件，芯片电流值都可以通过该导线进行测试。

在进行可靠性测试时，需要将本实用新型的装置串联在芯片供电回路中，可以断开串接的元器件后，将本装置接入该断开的元器件位置，或者将本装置连接在电源供电线路铜层切断处。根据上述测量的电流值，和本装置的直流电阻值（可以通过测量得到），便可精确计算供电电压经过衰减后的压降，这样便可以对芯片供电电源进行单独的电压调整，拉低该芯片的供电电压。

实施例1