[实用新型]TD-LTE-Advanced综测仪中合成本振装置

权利要求书

1.一种TD-LTE-Advanced综测仪中合成本振装置，其特征在于，所述装置包括：取样环、取样器模块、直接数字合成模块、本振发生模块、参考分配电路；其中， 

所述取样环，其信号输入端与所述参考分配电路连接，其信号输出端与所述取样器模块连接，用于为所述取样器模块中的取样器提供207MHz～236MHz的取样本振信号，对输入射频频率进行取样； 

所述取样器模块，为所述取样环和所述本振发生模块的中间结合模块，包括取样器、放大器、射频开关、分频器、滤波器、射频开关，用于执行频率取样，频谱搬移；其中，所述本振发生模块的信号输入至所述放大器，经由所述射频开关后，信号分为两路，一路经由所述分频器传送至另一射频开关，另一路与所述取样环输出的信号在取样器处合并，输出至另一放大器，经由滤波器，传输至所述另一射频开关； 

所述直接数字合成模块，其信号输入端与所述参考分配电路连接，其信号输出端与所述本振发生模块连接，用于实现整个本振的频率分辨率，执行小数分频； 

所述本振发生模块，其信号输入端分别与所述取样器模块、所述直接数字合成模块连接，其信号输出端与所述取样器模块连接，选用宽带VCO，覆盖5.0GHz～10.0GHz频段； 

所述参考分配电路，与所述取样环、所述直接数字合成模块连接，用于通过各种分频和倍频电路，给频率合成的各个模块提供频率参考。 

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述本振发生模块包括： 

鉴相器，用于接收取样中频和直接数字合成(DDS)电路的两路信号进行比相，利用多阶环路参数的优化拟合及带宽选择，控制宽带VCO，调试输出杂散和相噪指标性能。 

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括： 

FPGA控制电路，用于执行所述装置中各个模块的逻辑控制。 

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述取样环的带宽为100～300Hz。 

5.如权利要求1所述的装置，其特征在于， 

所述本振发生模块执行主锁相环调试操作，主锁相环的输出即为所述装置的输出频率，范围5.0GHz～10.5GHz，VCO输出幅度-6dBm，耦合器后输出幅度-12dBm，放大器后输出幅度为5dBm。 

6.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述参考分配电路由不同分频器和倍频器组合而成，为所述装置的各个频率合成单元提供所需的参考信号。