[实用新型]TD-LTE-Advanced综测仪中合成本振装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及TD-LTE-Advanced终端射频一致性测试应用领域，特别是涉及一种TD-LTE-Advanced综测仪中合成本振装置。 

背景技术

具有自主知识产权的TD-LTE-A(Time Division-Long Term Evolution Advanced)，已成为IMT-A(International Mobile Telecommunications)国际标准之一，与TD-LTE相比，它更具技术优势。在对移动通信终端产品的各种检测和验证中，对终端的射频及射频一致性测试是关键的一环，以检验终端产品是否符合射频测试规范的要求。 

3GPP TS36.521定义了TD-LTE-A的终端全部测试用例，同TD-LTE相比，TD-LTE-A除要求终端射频一致性测试设备输出频率分辨率1Hz，输出EVM小于3％外，频率范围扩展到4GHz，射频直至中频带宽拓展到100MHz。从超外差理论来看，中频大带宽要求混频采取高中频方案，即本振输出的最高频率在减去射频频率后仍高于射频，这就要求合成本振装置在保证1Hz高分辨率的同时，还要进行上限频率的扩展。 

本振的相位噪声是制约TD-LTE-A发射机和接收机的关键性指标，在TD-LTE-A综测仪中，本振的相位噪声指标直接影响EVM、误码率等测试结果。本振的分辨率决定了信号接收和发射的频率分辨率。 

针对相关技术中综测仪的频段、分辨率和频率合成输出频率较低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。 

实用新型内容

针对相关技术中综测仪的频段、分辨率和频率合成输出频率较低的问题，本实用新型提供了一种TD-LTE-Advanced综测仪中合成本振装置，用以解决上述技术问题。 

根据本实用新型的一个方面，本实用新型提供了一种TD-LTE-Advanced综测仪中合成本振装置，该装置包括：取样环、取样器模块、直接数字合成模块、本振发生模块、参考分配电路；其中，所述取样环，其信号输入端与所述参考分配电路连接，其信号输出端与所述取样器模块连接，用于为所述取样器模块中的取样器提供207MHz～236MHz的取样本振信号，对输入射频频率进行取样；所述取样器模块，为所述取样环和所述本振发生模块的中间结合模块，包括取样器、放大器、射频开关、分频器、滤波器、射频开关，用于执行频率取样，频谱搬移；其中，所述本振发生模块的信号输入至所述放大器，经由所述射频开关后，信号分为两路，一路经由所述分频器传送至另一射频开关，另一路与所述取样环输出的信号在取样器处合并，输出至另一放大器，经由滤波器，传输至所述另一射频开关；所述直接数字合成模块，其信号输入端与所述参考分配电路连接，其信号输出端与所述本振发生模块连接，用于实现整个本振的频率分辨率，执行小数分频；所述本振发生模块，其信号输入端分别与所述取样器模块、所述直接数字合成模块连接，其信号输出端与所述取样器模块连接，选用宽带VCO，覆盖5.0GHz～10.0GHz频段；所述参考分配电路，与所述取样环、所述直接数字合成模块连接，用于通过各种分频和倍频电路，给频率合成的各个模块提供频率参考。 

优选地，上述本振发生模块包括：鉴相器，用于接收取样中频和直接数字合成(DDS)电路的两路信号进行比相，利用多阶环路参数的优化拟合及带宽选择，控制宽带VCO，调试输出杂散和相噪指标性能。 

优选地，上述装置还包括：FPGA控制电路，用于执行上述装置中各个模块的逻辑控制。 

优选地，上述取样环的带宽为100～300Hz。 

优选地，上述本振发生模块执行主锁相环调试操作，主锁相环的输出即为上述装置的输出频率，范围5.0GHz～10.5GHz，VCO输出幅度-6dBm，耦合器后输出幅度-12dBm，放大器后输出幅度为5dBm。 

优选地，上述参考分配电路由不同分频器和倍频器组合而成，为上述装置的各个频率合成单元提供所需的参考信号。 

优选地，在扫描过程中，不改变取样振荡器的频率，频率扫描操作由上述直接数字合成模块完成；在所有的频点上，主VCO环的积分保持一致方向。