[实用新型]层叠体检查装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种层叠体检查装置，更为具体地是涉及一种在层叠体的任一部分都能够对边距等进行适宜的检查的层叠体的检查方法以及层叠体检查装置，和能够在通过利用该层叠体检查装置进行品质管理的同时制造层叠体的层叠体制造装置，上述层叠体为在作为能让光透过的绝缘体的基材上层叠能让光透过或者不能让光透过的部件而作成。 

背景技术

现有已知一种带状电线的整形装置，通过照相机，对于作为扁平电缆的绝缘体的基材上例如未覆盖有导体而露出于表面的部分，即对于窗部(以下称为“窗部”)进行拍摄，对获得的画像进行解析而检查边距(从作为平行于窗部的扁平电缆的卷取方向的端部的边缘(以下称为“边缘”)至最近的导体中心的距离)(例如参照专利文献1、2。)。 

现有技术文献 

专利文献 

专利文献1：日本特开2000-348552号公报 

专利文献2：日本特开2005-135923号公报 

实用新型内容

(实用新型要解决的问题) 

在上述现有的带状电线的整形装置中，由于从与照相机同一侧对扁平电缆进行照明并通过照相机对反射光的图像进行拍摄，因此存在不能够对导体未露出于表面的部分(＝窗部以外的部分)的边距进行检查的问题点。 

对此，如果从照相机的相对侧对扁平电缆进行照明并检测透过图像的话，则即使在导体未露出的部分(＝窗部以外的部分)也能够知晓 导体位置。然而，由于照明光绕过扁平电缆的边缘入射至照相机，因此存在扁平电缆的边缘在透过图像上不能适当地呈现，反而使得在扁平电缆的任一部分都不能够适当地对边距进行检查的问题点。 

因此，本实用新型的目的是提供一种在扁平电缆的任一部分都能够适当地对边距等进行检查的层叠体的检查方法以及层叠体检查装置，和通过利用该层叠体检查装置能够在进行品质管理的同时制造层叠体的层叠体制造装置。 

(解决问题的技术方案) 

在第一观点中，本实用新型提供一种层叠体的检查方法，其特征在于，使用具有用于照射第一光强度的光的第一光强度部分(1s)和用于照射比所述第一光强度弱的第二光强度的光的第二光强度部分(1r)的照明单元，从在能让光透过的透过基材(c2、c3)上层叠不能让光透过的不透过部件(c1)、难以让光透过的半透过部件(c1)和能让光透过的透过部件(c5)中的至少一个而作成的层叠体(C)的第一面侧照射光，通过所述第一光强度的光向所述层叠体(C)的第二面侧作成所述部件(c1、c5)的影像的同时，通过所述第二光强度的光作成所述透过基材(c2、c3)的边缘(cE)的影像，通过受光单元(2)取得所述部件(c1、c5)的影像以及所述边缘(cE)的影像的光强度，比较第一阀值T1和所述部件(c1、c5)的影像的受光强度对所述部件(c1、c5)的位置进行检查，比较比所述第一阀值T1大的第二阀值T2和所述边缘(cE)的影像的受光强度对所述边缘(cE)的位置进行检查。 

在上述第一观点所述的层叠体的检查方法中，将第一光强度设为,例如从带有加强板的扁平电缆(C)的第一面侧照射光时，能够向第二面侧作成不透过部件(c1)或者半透过部件(c1)或者透过部件(c5)的影像的光强度。并且使用对应于部件(c1、c5)的影像的受光强度的大小的第一阀值T1。由此，在层叠体的任一部分上都能够对不透过部件(c1)或者半透过部件(c1)以及透过部件(c5)的位置进行检查。 

但是，在第一光强度下，光在边缘(cE)绕射而在图像上不能够适当地呈现边缘(cE)的影像，不能够适当地对边距进行检查。于是，为了抑制光在边缘(cE)绕射而在图像上无法适当地呈现边缘(cE) 的影像的现象，使第二光强度比第一光强度弱。另外，由于光在边缘(cE)绕射，因此边缘(cE)的影像的受光强度变得比部件(c1、c5)的影像的受光强度大，所以使用比第一阀值T1大的第二阀值T2。由此，由于能够向带有加强板的扁平电缆(C)的第二面侧适当地作成边缘(cE)的影像，所以能够在层叠体的任一部分适当地对边距进行检查。 

作为照明，通过以第一光强度对检查层叠体(C)的内部构造或表面构造的对象进行照射，以比第一光强度弱的第二光强度对边缘进行照射，能够正确地测定边缘的位置。