[实用新型]Trench肖特基二极管有效
申请号: | 201320837912.5 | 申请日: | 2013-12-18 |
公开(公告)号: | CN203659881U | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 何永成;李健 | 申请(专利权)人: | 常州星海电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/06 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人: | 何学成 |
地址: | 213022 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | trench 肖特基 二极管 | ||
技术领域
本实用新型涉及电子器件领域,特别指出一种Trench肖特基二极管。
背景技术
肖特基整流器通常是高频电子应用更为理想的选择,由于它们具有高开关速度和低正向(导通状态)压降,其低正向导通能量损耗非常关键。但是直到最近,大多数应用的硅基肖特基势垒整流器都受到了低于100V的工作电压的限制。
一直以来,肖特基势垒整流器的反向阻断电压都受到了比200V低得多的电压的限制。这部分地是由于当反向阻断能力接近200V时,肖特基整流器的正向压降(VF)将接近PIN整流器的正向压降,使之在应用中的效率更低。为了适当地端接高反向电场,P型半导体保护环将在正向导通模式下把少数载流子注入到N型漂移区。这些载流子将导致高开关损耗,并在开关条件下减慢肖特基整流器的响应速度。
实用新型内容
针对上述问题,本实用新型提出Trench肖特基二极管。
为了解决上述技术问题,本实用新型是通过以下技术方案实现的:
Trench肖特基二极管,包括高浓度N+型衬底,高浓度N+型衬底的下表面为接触金属,上表面为半导体,其特征在于:所述半导体的上表面镀有肖特基势垒金属,并开设有沟槽,沟槽的内表壁具有二氧化硅薄层,沟槽内通过溅射参入多晶,所述的肖特基势垒金属和沟槽表面覆盖一层接触金属。。
进一步的,所述的沟槽的宽度为0.5μm,深度为1.8μm,间距为1.5μm。
进一步的,所述的氧化物表层最厚为0.3μm。
采用上述结构,本实用新型带来的有益效果是:TRENCH肖特基二极管利用创新的沟道式MOS势垒肖特基(TMBS)整流器可以降低传统平面肖特基器件的所有局限性,同时采用新颖沟道端接设计的TMBS二极管的示意横截面实现漂移区的电荷耦合效应MBS结构的耦合效应将把电场分布从线性变为非线性,并成功地改变电场分布,使较强的电场从肖特基金属硅界面转移到硅衬底。减少的表面电场将抑制势垒下降效应,显著减少一个给定肖特基势垒高度的泄漏电流。这将有助于降低所使用的肖特基势垒的高度,而不必牺牲反向泄漏性能,进而使正向导通状态压降有所下降。
Trench肖特基二极管的VF具有普通二极管无法超越的优势,在电源电路中的作用非常明显,可以降低在二极管上消耗的功率,从而提高充电的效率
附图说明
图1是本实用新型的截面示意图。
图2是传统肖特基二极管的截面示意图。
图3是本实用新型所述的肖特基二极管与传统肖特基二极管的VF实验数据对比图。
具体实施方式
Trench肖特基二极管,包括高浓度N+型衬底1,高浓度N+型衬底1的下表面为接触金属2,上表面为半导体3,所述半导体3的上表面镀有肖特基势垒金属4,并开设有沟槽5,沟槽的内表壁具有二氧化硅薄层,沟槽内通过溅射参入多晶6,所述的肖特基势垒金属4和沟槽5表面覆盖一层接触金属2。
所述的沟槽5的宽度为0.5μm,深度为1.8μm,间距为1.5μm。所述的氧化物表层最厚为0.3μm。
具体的说,本实用新型提出的Trench肖特基二极管是在现有肖特基二极管工艺的基础上,把MOS工艺和肖特基工艺进行整合后生产出新型超低VF的肖特基二极管,同时利用创新的沟道式MOS势垒肖特基(TMBS)整流器可以降低传统平面肖特基器件的所有局限性,TMBS结构的耦合效应将把电场分布从线性变为非线性,并成功地改变电场分布,使较强的电场从肖特基金属硅界面转移到硅衬底,减少的表面电场将抑制势垒下降效应,显著减少一个给定肖特基势垒高度的泄漏电流。这将有助于降低所使用的肖特基势垒的高度,而不必牺牲反向泄漏性能,进而使正向导通状态压降有所下降。
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