[实用新型]改进结构的平面工艺二极管有效

专利信息
申请号: 201320871227.4 申请日: 2013-12-27
公开(公告)号: CN203760484U 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 张书郎 申请(专利权)人: 湖北烨和电子科技有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L23/488
代理公司: 武汉金堂专利事务所 42212 代理人: 胡清堂
地址: 432900 湖北省孝感市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 改进 结构 平面 工艺 二极管
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域,具体地说是一种改进结构的平面工艺二极管。

背景技术

目前,公知的平面工艺二极管采用的铜基座为整体式,在晶粒蚀刻过程中大部分铜被浸泡于蚀刻液中,本不需要产生反应的铜与蚀刻酸液发生反应,导致蚀刻晶粒的酸液被消耗浪费,酸液与铜基座发生反应过程中,导致蚀刻晶粒的速率发生快速增加,严重影响蚀刻的角度、深度和均匀性,同时产生大量的铜离子,该离子在后续处理中难以清理干净,导致产品造成离子污染,最终产品特性不稳定、可靠性差、寿命短。

发明内容

为了克服上述现有技术的不足,本实用新型提供一种焊接性能好、酸式蚀刻速率和蚀刻均匀性好的改进结构的平面工艺二极管。

本实用新型一种改进结构的平面工艺二极管,包括:凸台式铜基座,凸台式铜基座上方焊接有阶梯式引线,凸台式铜基座外部套有铜壳;

所述的凸台式铜基座,包括:铜基座焊接台,铜基座焊接台上设置有蚀刻止液面,蚀刻止液面与卡环边相连;

所述的阶梯式引线上设置有引线止液叠层,引线止液叠层下方为引线焊接面,引线焊接面下方焊接有晶粒;

所述的蚀刻止液面高度为0.5—5mm;

所述的铜壳上设置有铜基座直纹;

所述的卡环边的内槽中套有胶环,胶环内部灌满液态黑胶进行二次保护。

本实用新型一种改进结构的平面工艺二极管是这样实现的:将引线放入设计的焊接盘中,引线焊接面上放置焊料,依次叠加开放型晶粒、放置焊料;铜基座焊接台进入隧道焊接炉中焊接,焊接出的产品通过特制的酸式蚀刻治具装填,将酸液深度控制在蚀刻止液面,同时引线止液叠层可以有效地将酸液控制在晶粒与蚀刻止液面之间,采用振荡式进行离子交换蚀刻,这样既保证了晶粒被很好的蚀刻,又使蚀刻液体能够有效地高速交换,最后形成高质量连接台面,使产品呈现优良一致的特性给予了有效的保障,最后采用白胶保护,卡环边内套阻燃胶环,灌上黑胶二次保护,直纹用于挤压到散热片上,实现二极管装配成整流器。

本实用新型一种改进结构的平面工艺二极管的优点是:采用改良的铜基座可以提高焊接性能,酸式蚀刻速率和蚀刻均匀性好,避免大面积铜浸泡于蚀刻酸液中,释放出大量铜离子,导致产品形成铜粒子污染,从而提高产品的可靠性和延长产品使用寿命,降低产品成本。

附图说明

图1引线结构示意图;

图2铜基座结构示意图;

图3成品结构示意图;

图4成品解剖结构示意图。

具体实施方式

本实用新型一种改进结构的平面工艺二极管,包括:凸台式铜基座,凸台式铜基座上方焊接有阶梯式引线,凸台式铜基座外部套有铜壳;

所述的凸台式铜基座,包括:铜基座焊接台1,铜基座焊接台1上设置有蚀刻止液面2,蚀刻止液面2与卡环边3相连;

所述的阶梯式引线上设置有引线止液叠层4,引线止液叠层4下方为引线焊接面5,引线焊接面5下方焊接有晶粒6;

所述的蚀刻止液面2高度为0.5—5mm;

所述的铜壳上设置有铜基座直纹7;

所述的卡环边3的内槽中套有胶环,胶环内部灌满液态黑胶进行二次保护。

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