[实用新型]主板测试元件和主板测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种主板测试元件和主板测试系统。 

背景技术

在计算机主板研发中，例如在处理器平台计算机主板研发过程中需要对主板进行稳定性和可靠性测试，现有技术中，可以将一应用程序的代码烧录在主板的存储芯片中，主板可以通过运行存储在存储芯片中的应用程序代码对该主板的稳定性和可靠性进行测试。然而，如果还需要通过其它应用程序来测试主板的稳定性和可靠性时，则将主板的存储芯片中已存储的应用程序的代码抹除，再将新的应用程序的代码烧录在该主板的存储芯片，然后主板通过运行存储在存储芯片中的新的应用程序代码对该主板的稳定性和可靠性进行测试，造成主板的测试效率低下。 

实用新型内容

本实用新型提供一种主板测试元件和主板测试系统，用于提高主板的测试效率。 

一方面，本实用新型提供的主板测试元件，包括： 

一第一基板、一第一电连接器与一测试芯片，所述第一电连接器与所述测试芯片都设置在所述第一基板上，且所述第一电连接器电性连接所述测试芯片；其中， 

所述测试芯片用于存储测试主板的应用程序代码； 

所述第一电连接器用于与主板的第二电连接器相电性连接，以使所述主板的中央处理器CPU得以通过所述第二电连接器调用所述主板测试元件中的所述测试芯片对所述主板进行测试。 

如上所述的主板测试元件，所述第一电连接器包括两排针脚，每排针脚 包括N个针脚，所述N为大于或等于4的整数； 

所述测试芯片具有串行外设接口SPI接口；所述第一电连接器中的4个针脚分别与所述测试芯片的SPI接口的使能信号线、数据输出线、数据输入线、时钟信号线连接。 

如上所述的主板测试元件，所述第一电连接器的一个针脚与所述测试芯片的供电电源线连接，以使所述主板对所述测试芯片进行供电，所述连接所述测试芯片的供电电源线的针脚相异于所述连接所述测试芯片的SPI接口的4个针脚。 

第二方面，本实用新型提供的主板测试系统，包括：一主板测试元件，具有一第一基板、一第一电连接器与一测试芯片，所述第一电连接器与所述测试芯片都设置在所述第一基板上，且所述第一电连接器电性连接所述测试芯片，所述测试芯片用于存储测试主板的应用程序代码； 

一主板，具有一第二电连接器，所述第二电连接器设置在所述主板上，所述第二电连接器电性连接所述主板的CPU； 

其中，所述第一电连接器与所述第二电连接器为相电性连接，以使所述主板的CPU得以调用所述主板测试元件中的所述测试芯片对所述主板进行测试。 

如上所述的主板测试系统，所述第一电连接器直接地结合所述第二电连接器。 

如上所述的主板测试系统，还包括一连接件，所述连接件的两侧分别电性连接所述第一电连接器及所述第二电连接器。 

如上所述的主板测试系统，所述第一电连接器包括两排针脚，所述第二电连接器包括两排针脚，每排针脚包括N个针脚，所述连接件的两侧分别包括两排针孔，每排针孔包括N个针孔，所述N为大于或等于4的整数； 

所述测试芯片具有串行外设接口SPI接口；所述第一电连接器中的4个针脚分别与所述测试芯片的SPI接口的使能信号线、数据输出线、数据输入线、时钟信号线连接； 

所述CPU具有SPI接口；所述第二电连接器中的4个针脚分别与所述CPU的SPI接口的使能信号线、数据输出线、数据输入线、时钟信号线连接。 

如上所述的主板测试系统，所述第一电连接器中连接所述测试芯片的SPI 接口的4个针脚的位置，与，所述第二电连接器中连接所述CPU的SPI接口的4个针脚的位置相同。 

如上所述的主板测试系统，所述第一电连接器的一个针脚与所述测试芯片的供电电源线连接，所述第二电连接器中的一个针脚与所述主板的电源电性连接，以使所述主板对所述测试芯片进行供电，所述连接所述测试芯片的供电电源线的针脚相异于所述连接所述测试芯片的SPI接口的4个针脚，所述电性连接所述主板的电源的针脚相异于所述连接所述CPU的SPI接口的4个针脚。 

如上所述的主板测试系统，所述主板的存储芯片具有SPI接口；所述第二电连接器中的一个针孔与所述主板的存储芯片的SPI接口的使能信号线连接，所述电性连接所述存储芯片的SPI接口的使能信号线的针脚相异于所述连接所述CPU的SPI接口连接的4个针脚；