[发明专利]光学装置的测试

权利要求书

1.一种测试光学装置的自动方法，所述方法包括：

将所述光学装置放置在透明片上或放置成靠近透明片；

使所述光学装置发射光透过所述透明片；

在所述光学装置发射所述光之后在处理单元中分析所述光学装置的响应；及

在所述处理单元中至少部分基于分析所述光学装置的所述响应而确定所述光学装置是否通过测试。

2.如权利要求1所述的方法，其中确定所述光学装置是否通过测试包含：确定所述光学装置是否满足特定一个或多个规格，以指示所述光学装置在被整合至最终产品或系统中时是否将满意地进行。

3.如前面的权利要求的任一项权利要求所述的方法，所述方法包含：

在第一表面与所述光学装置的光学轴相交时分析由所述光学装置检测的第一光量；及

在第二表面与所述光学装置的所述光学轴相交时分析由所述光学装置检测的第二光量，

其中所述第一表面及所述第二表面具有彼此不同的反射率且位于与所述光学装置的一侧相对的所述透明片的一侧上。

4.如权利要求3所述的方法，所述方法包含将所述第一表面或所述第二表面从其未与所述光学装置的所述光学轴相交的位置移动至其与所述光学装置的所述光学轴相交的位置。

5.如权利要求3所述的方法，其中所述第一表面吸收照射于其上的实质上全部光，且其中所述第二表面是至少部分反射性的。

6.如权利要求3所述的方法，其中所述第一表面由黑色参考卡组成。

7.如权利要求3所述的方法，其中所述第二表面由灰色参考卡组成。

8.如权利要求3所述的方法，所述方法包含：

使用所述第一表面以测量在所述光学装置中的发光元件与光检测元件之间的泄漏；及

使用所述第二表面以测量所述光学装置对具有明确的反射比特性的表面的光学响应。

9.如前面的权利要求的任何一项权利要求所述的方法，所述方法包含在所述第一表面与所述光学装置的光学轴相交时或在所述第二表面与所述光学装置的所述光学轴相交时检测所述光学装置中的光学串扰量。

10.如权利要求3所述的方法，所述方法包含在定位所述第一表面或所述第二表面的情况下使用处理单元来协调由耦接至所述光学装置的测试电子模块所要进行的测量的时序。

11.如权利要求10所述的方法，其中在所述第二表面处于第一位置中的情况下，在朝向所述第一表面发射光时，所述处理单元使所述测试电子模块测量所述光学装置的响应。

12.如权利要求11所述的方法，其中在所述处理单元从所述测试电子模块接收测试结果之后，所述处理单元使所述第二表面移动至一个位置以使得所述第二表面与所述光学装置的所述光学轴相交，且其中在朝向所述第二表面发射光时，所述处理单元接着使所述测试电子模块测量所述光学装置的响应。

13.一种测试在透明片上或靠近透明片的光学装置的自动方法，所述方法包括：

使所述光学装置发射光，该光透过所述透明片传输至具有后壁的区域中，所述后壁具有第一反射率，且分析所述光学装置的第一响应；

使第二表面移动至所述区域中使得所述第二表面与所述光学装置的光学轴相交，其中所述第二表面具有不同于所述后壁的反射率；

随后使所述光学装置发射光，该光透过所述透明片传输至所述区域中，且分析所述光学装置的第二响应；及

至少部分基于分析所述光学装置的这些响应而使用处理系统确定所述光学装置是否通过测试。

14.如权利要求13所述的方法，其中所述透明片模拟将整合有所述光学装置的最终产品或系统的盖。

15.如权利要求13所述的方法，其中所述光学装置为接近传感器，且其中所述透明盖具有模拟将整合有所述光学装置的移动电话的透明盖的光学特征的光学特征。