[发明专利]光学装置的测试有效
申请号: | 201380001506.8 | 申请日: | 2013-08-26 |
公开(公告)号: | CN103842790A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 哈特穆特·拉德曼;马蒂亚斯·葛鲁尔 | 申请(专利权)人: | 赫普塔冈微光有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01D18/00 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;吴启超 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 装置 测试 | ||
技术领域
本发明涉及光学装置的自动测试。
背景技术
各种类型的光学装置被并入至范围广泛的消费及工业产品及系统中。一种这样的装置为光学接近传感器(proximity sensor),该光学接近传感器能被整合(例如)至移动手持式电话中。能使用接近传感器感测电话是否被保持接近使用者的耳朵(例如,在打电话期间)且使电话的显示器关闭以便减小电力消耗或防止非故意地启动屏幕上的图标。若将电话移动远离使用者的耳朵,则接近传感器能检测该情境且使显示器开启且容许启动图标。
此类光学装置的测试对确保这些光学装置正常地运行及满足任何所需规格是重要的。一般而言,在这些光学装置被整合至最终产品中之后测试这些光学装置可能是有利的,以便容许在将使用这些装置的环境中测试这些装置。但是另一方面,这样做可能增加总成本且导致对移除没有以令人满意的方式满足测试的装置的需要。
发明内容
本公开内容描述用于测试光学装置的技术,该技术在一些实施方式中用模拟在将光学装置整合至最终产品或系统中时这些装置将被使用的环境的方式测试这些光学装置。例如,一方面包含用模拟在将该光学装置并入最终产品或系统中时的环境的至少一些方面的方式提供定位于该光学装置附近的透明片。例如,能在生产这些光学装置时或在将这些光学装置整合至最终产品或系统中之前的某一其他时间进行该测试。在一些实施方式中,测试单元的透明片及其他特征被设计以使得测试环境模仿该光学装置被整合至电话中的情境的各方面(例如,该光学装置位于电话的腔内的地方,该腔由保护该装置免遭污物、灰尘、湿气及类似物所害的透明盖覆盖)。
能(例如)结合包含光电模块、传感器(举例而言,诸如背景光传感器、接近传感器)、阵列相机、计算相机及其他多通道光学装置及设备的各种类型的光学装置一起使用此处描述的技术。这些光学装置可为(例如)微光学装置或模块且能包含至少一个有源光学部件和/或至少一个无源光学部件。这些装置及模块亦可属于其他类型。结合为电话或类似物设计的光学接近传感器的测试,这些技术能尤其有用。
本公开内容亦描述一种用于实施所揭示的技术的测试单元。
在一方面中,例如本公开内容描述一种测试光学装置的自动方法。该方法能包含将该光学装置放置在透明片上或放置成靠近透明片,使该光学装置发射光透过该透明片;在该光学装置发射光之后,分析该光学装置的响应;及在处理单元中至少部分基于分析该光学装置的响应而确定该光学装置是否通过测试。
另一方面描述一种测试在透明片上或靠近透明片的光学装置的自动方法。该方法能包含:使该光学装置发射光,该光透过该透明片而传输至具有后壁(该后壁具有第一反射率)的区域中;及分析该光学装置的第一响应。该方法亦包含使第二表面移动至该区域中以使得该第二表面与该光学装置的光学轴相交,其中该第二表面具有与该后壁不同的反射率。随后,使该光学装置发射光,该光透过该透明片而传输至该区域中,且分析该光学装置的第二响应。该方法进一步包含使用处理系统至少部分基于分析该光学装置的响应而确定该光学装置是否通过测试。
根据又一方面,描述一种用于测试光学装置的测试单元。该测试单元能包含用以保持该光学装置的装置保持器、邻近于该装置保持器的测试电子模块及邻近于该装置保持器的透明盖。该测试电子模块包含用于连接至该光学装置的电接触件的电接触件且该测试电子模块包含用于测量该光学装置的响应的电子器件。该测试单元进一步包含位于该透明盖的与该装置保持器的一侧相对的一侧上且具有第一反射率的壁。可移动间隔件能滑入或能滑出该区域且具有不同于该壁的反射率。处理单元被配置以:产生使该光学装置发射光(该光透过该透明片朝向该壁传输)的控制信号;分析该光学装置的第一响应;产生使该可移动间隔件在该壁与该透明盖之间移动的控制信号;产生使该光学装置发射光(该光透过该透明盖朝向该可移动间隔件传输)的控制信号;分析该光学装置的第二响应;及至少部分基于分析该光学装置的这些响应而确定该光学装置是否通过测试。
在一些实施方式中,壁由黑色参考卡组成且间隔件由灰色参考卡组成,两者都能具有明确的反射比特性。黑色参考卡能用于例如,测量在光学装置中的发光元件与光检测元件之间的泄漏及校准该测量。灰色参考卡能用于例如,测量该光学装置对具有明确的反射比特性的表面的光学响应。
从下文详细描述、所附附图及权利要求书将容易明白其他方面、特征及优点。
附图说明
图1是测试光学装置的方法的流程图。
图2是示出间隔件在第一位置中的光学装置测试单元的简图。
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