[发明专利]具有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法、具有双重带隙倾斜度的CZTS系太阳能电池的制造方法及CZTS系太阳能电池有效
申请号: | 201380004304.9 | 申请日: | 2013-06-19 |
公开(公告)号: | CN103999229B | 公开(公告)日: | 2016-11-16 |
发明(设计)人: | 尹载浩;郭智惠;安世镇;尹庆勋;申基植;安承奎;赵阿拉;朴相炫;赵俊植;柳镇洙;朴柱炯;鱼英柱 | 申请(专利权)人: | 韩国ENERGY技术硏究院 |
主分类号: | H01L31/032 | 分类号: | H01L31/032;H01L31/18 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 袁波;刘继富 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 双重 倾斜度 czts 薄膜 制造 方法 太阳能电池 | ||
1.一种形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,包括:合成由Cu、Zn及Sn构成的前体薄膜层的步骤;对上述前体薄膜层进行第一次硫化处理的步骤;对上述经硫化处理的薄膜层进行硒化处理的步骤;对上述经硒化处理的薄膜层进行第二次硫化处理的步骤。
2.根据权利要求2所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:合成上述前体薄膜层的步骤是利用选自共蒸发法、溅镀法、电沉积法、纳米粒子沉积法及溶液涂布法中的一种方法实现的。
3.根据权利要求2所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述第一次硫化处理及第二次硫化处理是通过在H2S氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入S的方法实现的。
4.根据权利要求2所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述硒化处理是通过在H2Se氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入Se的方法实现的。
5.一种形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,包括:合成由Cu、Zn、Sn及S构成的前体薄膜层的步骤;对上述前体薄膜层进行硒化处理的步骤;对上述经硒化处理的薄膜层进行硫化处理的步骤。
6.根据权利要求6所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:合成上述前体薄膜层的步骤是利用选自共蒸发法、溅镀法、电沉积法、纳米粒子沉积法及溶液涂布法中的一种方法实现的。
7.根据权利要求6所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述硒化处理是通过在H2Se氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入Se的方法实现的。
8.根据权利要求6所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述硫化处理是通过在H2S氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入S的方法实现的。
9.一种形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,包括:合成由Cu、Zn及Sn构成的第一前体薄膜层的步骤;对上述第一前体薄膜层进行第一次硫化处理的步骤;在上述经硫化处理的薄膜层上,合成由Cu、Zn及Sn构成的第二前体薄膜层的步骤;对上述第二前体薄膜层进行硒化处理的步骤;在上述经硒化处理的薄膜层上,合成由Cu、Zn及Sn构成的第三前体薄膜层的步骤;对上述第三前体薄膜层进行第二次硫化处理的步骤。
10.根据权利要求10所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:合成上述第一到第三前体薄膜层的步骤是利用选自共蒸发法、溅镀法、电沉积法、纳米粒子沉积法及溶液涂布法中的一种方法实现的。
11.根据权利要求10所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述第一次硫化处理及第二次硫化处理是通过在H2S氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入S的方法实现的。
12.根据权利要求10所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述硒化处理是通过在H2Se氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入Se的方法实现的。
13.一种形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,包括:形成Cu2ZnSnS4薄膜层的步骤;形成Cu2ZnSn(S,Se)4薄膜层的步骤;及形成Cu2ZnSnS4薄膜层的步骤。
14.一种形成有双重带隙倾斜度的CZTS系太阳能电池的制造方法,包括:形成后面电极的步骤;在上述后面电极上,利用权利要求1到13中的任一种方法形成CZTS系薄膜层的步骤。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的