[发明专利]具有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法、具有双重带隙倾斜度的CZTS系太阳能电池的制造方法及CZTS系太阳能电池有效

专利信息
申请号: 201380004304.9 申请日: 2013-06-19
公开(公告)号: CN103999229B 公开(公告)日: 2016-11-16
发明(设计)人: 尹载浩;郭智惠;安世镇;尹庆勋;申基植;安承奎;赵阿拉;朴相炫;赵俊植;柳镇洙;朴柱炯;鱼英柱 申请(专利权)人: 韩国ENERGY技术硏究院
主分类号: H01L31/032 分类号: H01L31/032;H01L31/18
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 袁波;刘继富
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 具有 双重 倾斜度 czts 薄膜 制造 方法 太阳能电池
【权利要求书】:

1.一种形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,包括:合成由Cu、Zn及Sn构成的前体薄膜层的步骤;对上述前体薄膜层进行第一次硫化处理的步骤;对上述经硫化处理的薄膜层进行硒化处理的步骤;对上述经硒化处理的薄膜层进行第二次硫化处理的步骤。

2.根据权利要求2所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:合成上述前体薄膜层的步骤是利用选自共蒸发法、溅镀法、电沉积法、纳米粒子沉积法及溶液涂布法中的一种方法实现的。

3.根据权利要求2所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述第一次硫化处理及第二次硫化处理是通过在H2S氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入S的方法实现的。

4.根据权利要求2所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述硒化处理是通过在H2Se氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入Se的方法实现的。

5.一种形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,包括:合成由Cu、Zn、Sn及S构成的前体薄膜层的步骤;对上述前体薄膜层进行硒化处理的步骤;对上述经硒化处理的薄膜层进行硫化处理的步骤。

6.根据权利要求6所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:合成上述前体薄膜层的步骤是利用选自共蒸发法、溅镀法、电沉积法、纳米粒子沉积法及溶液涂布法中的一种方法实现的。

7.根据权利要求6所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述硒化处理是通过在H2Se氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入Se的方法实现的。

8.根据权利要求6所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述硫化处理是通过在H2S氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入S的方法实现的。

9.一种形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,包括:合成由Cu、Zn及Sn构成的第一前体薄膜层的步骤;对上述第一前体薄膜层进行第一次硫化处理的步骤;在上述经硫化处理的薄膜层上,合成由Cu、Zn及Sn构成的第二前体薄膜层的步骤;对上述第二前体薄膜层进行硒化处理的步骤;在上述经硒化处理的薄膜层上,合成由Cu、Zn及Sn构成的第三前体薄膜层的步骤;对上述第三前体薄膜层进行第二次硫化处理的步骤。

10.根据权利要求10所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:合成上述第一到第三前体薄膜层的步骤是利用选自共蒸发法、溅镀法、电沉积法、纳米粒子沉积法及溶液涂布法中的一种方法实现的。

11.根据权利要求10所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述第一次硫化处理及第二次硫化处理是通过在H2S氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入S的方法实现的。

12.根据权利要求10所述的形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,其特征在于:上述硒化处理是通过在H2Se氛围中进行热处理的方法或利用真空蒸发法向薄膜注入Se的方法实现的。

13.一种形成有双重带隙倾斜度的CZTS系薄膜的制造方法,包括:形成Cu2ZnSnS4薄膜层的步骤;形成Cu2ZnSn(S,Se)4薄膜层的步骤;及形成Cu2ZnSnS4薄膜层的步骤。

14.一种形成有双重带隙倾斜度的CZTS系太阳能电池的制造方法,包括:形成后面电极的步骤;在上述后面电极上,利用权利要求1到13中的任一种方法形成CZTS系薄膜层的步骤。

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