[发明专利]自动分析装置有效

专利信息
申请号: 201380007700.7 申请日: 2013-02-12
公开(公告)号: CN104094100A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 山下浩太郎;饭岛昌彦 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01N21/49 分类号: G01N21/49;G01N35/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 张敬强;严星铁
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 自动 分析 装置
【权利要求书】:

1.一种自动分析装置,其特征在于,具备:

多波长光源,该多波长光源向收纳测定对象试样与试剂的混合液的反应容器照射多波长光;

透光量检测单元,该透光量检测单元检测透过上述反应容器以及收纳物的透光量;

单波长光源,该单波长光源向上述反应容器照射单波长光;

光散射光量检测单元,该光散射光量检测单元检测因上述单波长光的照射而从上述反应容器以及收纳物产生的光散射光;

存储部,该存储部存储上述透光量检测单元的透光量检测结果以及上述光散射光量检测单元的光散射光量检测结果;以及

判定部,该判定部基于对收纳有预先设定的基准溶液的上述反应容器进行透光量检测以及光散射光量检测的单元空白测定的测定结果,进行判定上述单波长光源、上述多波长光源以及上述反应容器的劣化状态的劣化判定处理。

2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,

具备运算部,该运算部运算测定结果之差,该测定结果之差为在作为劣化判定处理的对象的单元空白测定之前的在预先设定的基准时进行了的单元空白测定的结果即存储于上述存储部的测定结果、与作为劣化判定处理对象的单元空白测定的测定结果之差,

上述判定部基于上述运算部的运算结果进行劣化判定处理。

3.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,

上述判定部,在上述劣化判定处理中判定出上述反应容器的劣化的情况下,发出告知操作人员产生上述反应容器相关的异常的单元检查警报。

4.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,

上述判定部,在上述劣化判定处理中判定出上述单波长光源的劣化的情况下,发出告知操作人员产生上述单波长光源相关的异常的单波长光源检查警报。

5.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,

上述判定部,在上述劣化判定处理中判定出上述多波长光源的劣化的情况下,发出告知操作人员产生上述多波长光源相关的异常的多波长光源检查警报。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立高新技术,未经株式会社日立高新技术许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201380007700.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top