[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201380007700.7 | 申请日: | 2013-02-12 |
公开(公告)号: | CN104094100A | 公开(公告)日: | 2014-10-08 |
发明(设计)人: | 山下浩太郎;饭岛昌彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N21/49 | 分类号: | G01N21/49;G01N35/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;严星铁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,其特征在于,具备:
多波长光源,该多波长光源向收纳测定对象试样与试剂的混合液的反应容器照射多波长光;
透光量检测单元,该透光量检测单元检测透过上述反应容器以及收纳物的透光量;
单波长光源,该单波长光源向上述反应容器照射单波长光;
光散射光量检测单元,该光散射光量检测单元检测因上述单波长光的照射而从上述反应容器以及收纳物产生的光散射光;
存储部,该存储部存储上述透光量检测单元的透光量检测结果以及上述光散射光量检测单元的光散射光量检测结果;以及
判定部,该判定部基于对收纳有预先设定的基准溶液的上述反应容器进行透光量检测以及光散射光量检测的单元空白测定的测定结果,进行判定上述单波长光源、上述多波长光源以及上述反应容器的劣化状态的劣化判定处理。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
具备运算部,该运算部运算测定结果之差,该测定结果之差为在作为劣化判定处理的对象的单元空白测定之前的在预先设定的基准时进行了的单元空白测定的结果即存储于上述存储部的测定结果、与作为劣化判定处理对象的单元空白测定的测定结果之差,
上述判定部基于上述运算部的运算结果进行劣化判定处理。
3.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,
上述判定部,在上述劣化判定处理中判定出上述反应容器的劣化的情况下,发出告知操作人员产生上述反应容器相关的异常的单元检查警报。
4.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,
上述判定部,在上述劣化判定处理中判定出上述单波长光源的劣化的情况下,发出告知操作人员产生上述单波长光源相关的异常的单波长光源检查警报。
5.根据权利要求2所述的自动分析装置,其特征在于,
上述判定部,在上述劣化判定处理中判定出上述多波长光源的劣化的情况下,发出告知操作人员产生上述多波长光源相关的异常的多波长光源检查警报。
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