[发明专利]飞行时间二次离子质谱分析装置用试样固定部件无效
| 申请号： | 201380007772.1 | 申请日： | 2013-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN104081195A | 公开（公告）日： | 2014-10-01 |
| 发明（设计）人： | 前野洋平 | 申请（专利权）人： | 日东电工株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64;C01B31/02;H01J49/40 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 飞行 时间 二次 离子 谱分析 装置 试样 固定 部件 | ||
【权利要求书】：
1.一种飞行时间二次离子质谱分析装置用试样固定部件，其特征在于，包含：
具备多个长度200μm以上的纤维状柱状物的纤维状柱状结构体。
2.如权利要求1所述的飞行时间二次离子质谱分析装置用试样固定部件，其特征在于：
室温的相对于玻璃面的剪切粘接力为10N/cm2以上。
3.如权利要求1或2所述的飞行时间二次离子质谱分析装置用试样固定部件，其特征在于：
所述纤维状柱状结构体为具备多个碳纳米管的碳纳米管集合体。
4.如权利要求3所述的飞行时间二次离子质谱分析装置用试样固定部件，其特征在于：
所述碳纳米管具有多个层，该碳纳米管的层数分布的分布宽度为10层以上，该层数分布的最频值的相对频度为25％以下。
5.如权利要求3所述的飞行时间二次离子质谱分析装置用试样固定部件，其特征在于：
所述碳纳米管具有多个层，该碳纳米管的层数分布的最频值存在于层数10层以下，该最频值的相对频度为30％以上。
6.如权利要求1～5中任一项所述的飞行时间二次离子质谱分析装置用试样固定部件，其特征在于：
包含基材。
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