[发明专利]判定方法、判定装置、判定系统及程序

权利要求书

1.一种判定方法，其特征在于，是对通过被标记了的被检查物质与载体上作为斑点被固定化了的选择结合性物质结合而作为标记的检测强度获得的、所述被检查物质的选择性结合量的可靠性进行判定的判定方法，

其包括下述步骤：

像素群提取步骤，在将所述载体中的所述检测强度图像化而得到的图像数据中确定所述斑点的位置，提取与该斑点对应的像素群，

中位数算出步骤，算出在所述像素群提取步骤中提取出的所述像素群中的所述检测强度的中位数值、与从该像素群中除去上位规定比例和/或下位规定比例的像素后的群中的所述检测强度的中位数值的比或差，

可靠性判定步骤，基于在所述中位数算出步骤中算出的所述比或所述差、和规定的基准值，判定所述可靠性的好坏。

2.根据权利要求1所述的判定方法，其特征在于，

所述中位数算出步骤中，算出通过以下的式1和/或式2获得的比的值，

|X-Xt|/X   (式1)

|X-Xb|/X   (式2)

这里，X为所述像素群中的所述检测强度的中位数值，Xt为从该像素群中除去上位规定比例的像素后的群中的所述检测强度的中位数值，Xb为从该像素群中除去下位规定比例的像素后的群中的所述检测强度的中位数值，

所述可靠性判定步骤中，如果在所述中位数算出步骤中算出的所述比的值为所述基准值以上，则判定为不良。

3.根据权利要求1或2所述的判定方法，其特征在于，

所述基准值为通过以下的式3获得的值，

S＝C+Z/X   (式3)

这里，S为所述基准值，C为常数，Z为检测所述标记的检测强度的装置的灵敏度设定时的偏移值，X为所述像素群中的所述检测强度的中位数值。

4.根据权利要求3所述的判定方法，其特征在于，

检测所述标记的检测强度的装置为光电倍增管，

所述偏移值为通过以下的式4获得的值，

Z＝X＾(A)＊B   (式4)

这里，Z为所述偏移值，X为所述光电倍增管的增益电压，A和B为常数。

5.根据权利要求1～4的任一项所述的判定方法，其特征在于，

所述载体为微阵列，

所述标记为荧光标记，

所述检测强度为荧光量，

所述可靠性判定步骤中，判定斑点的好坏作为所述可靠性的好坏。

6.一种判定装置，其特征在于，是至少具备控制部的判定装置，所述控制部对通过被标记了的被检查物质与载体上作为斑点被固定化了的选择结合性物质结合而作为标记的检测强度获得的、所述被检查物质的选择性结合量的可靠性进行判定，

所述控制部具备下述机构：

像素群提取机构，在将所述载体中的所述检测强度图像化而得到的图像数据中确定所述斑点的位置，提取与该斑点对应的像素群，

中位数算出机构，算出通过所述像素群提取机构提取出的所述像素群中的所述检测强度的中位数值、与从该像素群中除去上位规定比例和/或下位规定比例的像素后的群中的所述检测强度的中位数值的比或差，

可靠性判定机构，基于通过所述中位数算出机构算出的所述比或所述差、和规定的基准值，判定所述可靠性的好坏。

7.一种判定系统，其特征在于，是将检测装置与判定装置连接而构成的判定系统，所述检测装置读取通过被标记了的被检查物质与载体上作为斑点被固定化了的选择结合性物质结合而获得的标记的检测强度，所述判定装置至少具备对作为所述检测强度而获得的、所述被检查物质的选择性结合量的可靠性进行判定的控制部，

所述判定装置的所述控制部具备下述机构：

图像数据取得机构，取得介由所述检测装置读取的所述载体中的所述检测强度作为图像化而得到的图像数据，

像素群提取机构，在通过所述图像数据取得机构取得的所述图像数据中确定所述斑点的位置，提取与该斑点对应的像素群，

中位数算出机构，算出通过所述像素群提取机构提取出的所述像素群中的所述检测强度的中位数值、与从该像素群中除去上位规定比例和/或下位规定比例的像素后的群中的所述检测强度的中位数值的比或差，

可靠性判定机构，基于通过所述中位数算出机构算出的所述比或所述差、和规定的基准值，判定所述可靠性的好坏。

8.一种用于使至少具备控制部的计算机执行下述方法的程序，所述方法为对通过被标记了的被检查物质与载体上作为斑点被固定化了的选择结合性物质结合而作为标记的检测强度获得的、所述被检查物质的选择性结合量的可靠性进行判定的方法，

使所述控制部执行所述方法，所述方法包括下述步骤：

像素群提取步骤，在将所述载体中的所述检测强度图像化而得到的图像数据中确定所述斑点的位置，提取与该斑点对应的像素群，

中位数算出步骤，算出在所述像素群提取步骤中提取出的所述像素群中的所述检测强度的中位数值、与从该像素群中除去上位规定比例和/或下位规定比例的像素后的群中的所述检测强度的中位数值的比或差，

可靠性判定步骤，基于在所述中位数算出步骤中算出的所述比或所述差、和规定的基准值，判定所述可靠性的好坏。