[发明专利]回卷装置、回卷方法、检查装置以及构造物制造方法有效

专利信息
申请号: 201380016049.X 申请日: 2013-01-24
公开(公告)号: CN104185771A 公开(公告)日: 2014-12-03
发明(设计)人: 壁谷泰宏;古田宽和;原伸夫;青木祥平;滨野诚司 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B9/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘文海
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 装置 方法 检查 以及 构造 制造
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种回卷装置、回卷方法、检查装置以及构造物制造方法。

背景技术

在回卷像锂离子电池的电极或者薄膜电容器那样的带状的片材而形成的回卷体中,基于它们的特性角度出发,片材的卷绕偏移的检查非常重要。作为检查卷绕偏移的装置,在专利文献1中记载了作为现有技术的图10所示的装置。

在图10中,检查对象物2设置在台1上。检查对象物2为结束了片材的回卷的回卷体。从X射线照射装置3向设置在台1上的检查对象物2的一个侧面照射有X射线。电视摄像机4对检查对象物2的另一个侧面进行拍摄。通过该拍摄而在电视摄像机4获取检查对象物2的X射线透过图像。在现有技术中,根据该X射线透过图像来检查检查对象物2的卷绕偏移。

【在先技术文献】

【专利文献】

专利文献1:日本特开平11-51629号公报

发明内容

【发明要解决的课题】

然而,由于在现有技术中使用X射线,因此存在如下的课题,即,存在工作人员被辐射的风险。

本发明为解决所述以往的课题而完成,其目的在于,不使用X射线地实施检查。

【用于解决课题的方案】

为了实现所述目的,本发明的一方式所涉及的回卷装置将贴合的第一片与第二片卷绕在卷芯上从而形成回卷体,所述回卷装置的特征在于,具备:

光源单元,其射出放射光;

分割部,其将所述放射光分割为照射在贴合的所述第一片与所述第二片的侧面部上的测定光和照射在参照面上的参照光;

干涉检测部,其检测由所述参照面反射的所述参照光与由所述侧面部反射的所述测定光干涉而成的干涉光;

位置检测部,其根据检测到的所述干涉光而分别检测所述第一片与所述第二片的位置;

判定部,其根据检测到的所述第一片与所述第二片的所述位置来判定所述回卷体的优劣。

而且,为了实现所述目的,本发明的其它方式所涉及的检查装置对具有被贴合了的第一片与第二片的部件进行检查,所述检查装置的特征在于,具备:

光源单元,其射出放射光;

分割部,其将所述放射光分割为照射在所述第一片与所述第二片的侧面部上的测定光和照射在参照面上的参照光;

干涉检测部,其检测由所述参照面反射的所述参照光与由所述侧面部反射的所述测定光干涉而成的干涉光;

位置检测部,其根据检测到的所述干涉光而分别检测所述第一片与所述第二片的位置;

判定部,其根据检测到的所述第一片与所述第二片的所述位置来判定所述部件的优劣。

而且,为了实现所述目的,本发明的其它方式所涉及的回卷方法将贴合的第一片与第二片卷绕在卷芯上从而形成回卷体,并且实施检查工序,所述回卷方法的特征在于,所述检查工序包含:

将测定光照射在贴合的所述第一片与所述第二片的侧面部上并且将参照光照射在参照面上的工序;

检测由所述参照面反射的所述参照光与由所述侧面部反射的所述测定光干涉而成的干涉光的工序;

根据检测到的所述干涉光而分别检测所述第一片与所述第二片的位置的工序;

根据检测到的所述第一片与所述第二片的所述位置来判定所述回卷体的优劣的工序。

而且,为了实现所述目的,本发明的其它方式所涉及的构造物制造方法的特征在于,包含:

准备通过所述回卷方法形成的所述回卷体的工序;

使用所述回卷体而制造构造物的工序。

而且,为了实现所述目的,本发明的其它方式所涉及的构造物制造方法的特征在于,包含:

使用所述检查装置而对所述部件实施检查的工序;

利用实施了检查的所述部件而制造构造物的工序。

【发明效果】

根据本发明的方式,能够不使用X射线地实施检查。

附图说明

由与针对所添加附图的优选实施方式相关的以下的记述阐明本发明的这些内容和其他目的和特征。在该附图中,

图1A为第一实施方式中的回卷装置的示意图,

图1B为回卷装置的检查对象物的一例的锂离子电池的立体图,

图2为从箭头标记B观察图1A中的A-A’剖面而得到的图,且为回卷装置的卷绕偏移检查装置的结构图,

图3为表示第一实施方式所涉及的回卷装置的回卷方法的流程图,

图4A为用于说明卷绕偏移量Δz的图,且为表示卷芯的旋转角度θ与回卷体的端面的位置z1、z2的关系的图,

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