[发明专利]微芯片型光学测量装置及其光学位置调整方法

说明书

技术领域

本技术涉及一种微芯片型光学测量装置及其光学位置调整方法。更具体地，本技术涉及一种允许自动最优化并且高精度测量微芯片的光学位置的微芯片型光学测量装置。

背景技术

已知一种光学测量诸如细胞等微粒的特性的微粒测量装置(例如，流式细胞仪)。

在流式细胞仪中，包含细胞的样品液体流动通过在流动池(flow cell)或者微芯片中形成的流路，并且检测器通过使用激光照射流路内通流(through-flow)的细胞而检测从细胞产生的荧光或者散射光，因此，测量细胞的光学特性。此外，在流式细胞仪中，作为光学特性的测量结果，从细胞单独采集被确定为满足预定条件的种群(群)。

例如，在PTL 1中，作为微芯片型流式细胞仪，公开了“一种微粒分离设备，包括：微芯片，微芯片设置有包括微粒的液体通过其流动的流路；和孔，孔将通过流路流动的液体排出到芯片外空间；振动元件，振动元件用于将液滴化的液体吐出到孔中；荷电单元，荷电单元用于将电荷施加给吐出的液滴；光学检测单元，光学检测单元检测流动通过流路的微粒的光学特性；对电极，对电极被设置成彼此面向并且沿着被吐出到芯片外部空间中的液滴的移动方向夹持移动的液滴；以及两个或者更多容器，两个或者更多容器收集在对电极之间通过的液滴”。

列表

专利文献

PTL 1：日本未经审查专利申请公开第2010-190680号

发明内容

技术问题

要求微粒测量装置以高精度执行形成在流动池或者微芯片的流路内的微粒的通流位置和激光光轴的位置调整，从而精确测量微粒的光学特性。在现有技术中，因为用户使用用于校准的颗粒(校准珠(calibration beads))手动执行位置调整，所以位置调整要求熟练，并且由此存在可靠性或者稳定性等问题。具体地，在微芯片型微粒测量装置中，无论何时交换或者分析微芯片，都要求光学位置调整，并且由此位置调整相当麻烦并且复杂。

因此，本发明的目标是提供一种能够高精度地自动执行微芯片相对于激光光轴的位置调整的微芯片型光学测量装置。

技术方案

为了解决上述所述问题，本发明提供一种微芯片型光学测量装置，包括：照射检测单元，照射检测单元检测通过使用激光照射微芯片而产生的光；位置调整单元，位置调整单改变微芯片相对于照射检测单元的相对位置；以及控制单元，控制单元将针对其中预设定区域(preset region)中的光的检测强度的积分值或者平均值变得较大的位置的移动信号输出给位置调整单元。

在微芯片型光学测量装置中，控制单元可假设检测位置与光的检测强度的积分值或者平均值之间的关系遵循预存储的概率分布，可基于概率法推测概率分布的分布参数，并且由此可根据该推测生成针对其中光的检测强度的积分值或者平均值变成最大的位置的移动信号。控制单元可根据激光的照射轮廓(irradiation profile)选择概率分布。

此外，控制单元可将其中多个预设定点中的光的检测强度的积分值或者平均值的变化系数变成最小的位置的移动信号输出给位置调整单元。

此外，控制单元可将其中多个预设定面积(preset area)中的检测强度的积分值的面积平均变成最大的面积的移动信号输出给位置调整单元。

此外，控制单元可将其中多个预设定点中的检测强度的积分值变成最大的位置的移动信号输出给位置调整单元。

此外，控制单元可将其中最大面积平均的面积中的检测强度的积分值变成最大的第一最佳位置的移动信号或者其中最大面积平均的面积的变化系数变成最小的第二最佳位置的移动信号输出给位置调整单元。

此外，当第一最佳位置与第二最佳位置彼此不同时，控制单元可将针对第二光学位置的移动信号输出给位置调整单元。

微芯片型光学测量装置可被配置为微芯片型微粒测量装置。

此外，本发明提供一种光学位置调整方法，包括用于从微芯片上的多个位置检测通过激光照射而从微芯片产生的光的过程和用于指定其中预设定区域中的光的检测强度的积分值或者平均值变成最大的位置的过程。

在用于指定该位置的过程中，可以假设检测位置与光的检测强度的积分值或者平均值之间的关系遵循预存储的概率分布，可以基于概率法推测概率分布的分布参数，并且由此通过该推测可以指定其中光的检测强度的积分值或者平均值变成最大的位置。