[发明专利]缺陷判定装置、放射线摄像系统及缺陷判定方法

权利要求书

1.一种缺陷判定装置，根据由对透过了被检查对象物的放射线进行检测的放射线摄像装置得到的检测图像数据，判定所述被检查对象物有无缺陷，该缺陷判定装置具备：

特征位置确定单元，将由预先存储在存储单元中的特征数据所表示的所述被检查对象物的特征部位的形状，与所述检测图像数据进行对照，确定所述检测图像数据中的所述特征部位的位置；和

缺陷判定单元，从在所述检测图像数据中遮蔽所述特征位置确定单元确定出的所述检测图像数据中的所述特征部位而得到的遮蔽后的检测图像数据之中，提取候补缺陷，并基于由预先存储在存储单元中的缺陷特性数据所表示的缺陷的特性量和所述候补缺陷的特性量，判定所述被检查对象物有无缺陷。

2.根据权利要求1所述的缺陷判定装置，其中，

所述缺陷判定单元求取来自所述特征部位的所述候补缺陷的位置，基于由与该位置相应的所述缺陷特性数据所表示的所述缺陷的特性量和所述候补缺陷的特性量，判定所述被检查对象物有无缺陷。

3.根据权利要求2所述的缺陷判定装置，其中，

所述缺陷特性数据将欧几里得距离在给定阈值以下的缺陷作为一个集合体，表示每个该集合体的特性量。

4.根据权利要求3所述的缺陷判定装置，其中，

针对所述集合体分别设定优先顺序，

越是被内包于优先顺序高的所述集合体的存在范围内的所述候补缺陷，所述缺陷判定单元就越判定为更像缺陷。

5.根据权利要求2所述的缺陷判定装置，其中，

所述缺陷特性数据将缺陷按以所述特征部位的位置为基准的多个区域的每个区域进行分类，表示与每个该区域相应的所述缺陷的特性量。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的缺陷判定装置，其中，

通过新追加已被判定为缺陷的所述候补缺陷的特性量来更新所述缺陷特性数据。

7.根据权利要求1所述的缺陷判定装置，其中，

所述特征位置确定单元将所述特征数据所表示的产品特征图像用作模板，通过使所述产品特征图像移动、旋转及放大缩小，从而与所述检测图像数据所表示的检测图像进行对照，确定所述检测图像数据中的产品特征的位置，从对照结果中确定所述放射线摄像装置所具备的摄像装置上的所述特征部位的位置。

8.一种放射线摄像系统，具备：

放射线摄像装置，向被检查对象物照射放射线，获得对透过了被检查对象物的放射线进行了检测的检测图像数据；和

权利要求1～7中任一项所述的缺陷判定装置。

9.一种缺陷判定方法，根据由对透过了被检查对象物的放射线进行检测的放射线摄像装置得到的检测图像数据，判定所述被检查对象物有无缺陷，该缺陷判定方法包括：

第1工序，将由预先存储在存储单元中的特征数据所表示的所述被检查对象物的特征部位的形状，与所述检测图像数据进行对照，确定所述检测图像数据中的所述特征部位的位置；和

第2工序，从在所述检测图像数据中遮蔽通过所述第1工序确定出的所述检测图像数据中的所述特征部位而得到的遮蔽后的检测图像数据之中，提取候补缺陷，基于由预先存储在存储单元中的缺陷特性数据所表示的缺陷的特性量和所述候补缺陷的特性量，判定所述被检查对象物有无缺陷。