[发明专利]缺陷判定装置、放射线摄像系统及缺陷判定方法

说明书

技术领域

本发明涉及缺陷判定装置、放射线摄像系统及缺陷判定方法。

背景技术

放射线摄像装置向被检查对象物照射放射线(例如X射线)，对透过了被检查对象物的放射线进行检测，得到检测图像数据。该检测图像数据例如是通过利用FPD(Flat panel detector)检测放射线而得到的。

FPD由多个检测元件构成，在检测元件之中，有时会以线状产生输出与所照射的放射线相应的检测信号有异常的检测元件。

专利文献1公开了以下放射线摄像装置：对拍摄到的图像进行边缘增强处理，通过设定给定的阈值来判定线状异常图像元件，通过进一步增强线状异常图像元件并使之浮起，生成边缘增强处理后的差分检测图像数据，由此能够更精密地检测有微小变化的线状异常图像元件。

【在先技术文献】

【专利文献】

【专利文献1】JP特开2009-153942号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

然而，如专利文献1所述，即便能精密地检测线状异常图像元件，但在成为有无被检查对象物所产生的缺陷的基准的初始图像、和检测实际上透过了被检查对象物的放射线而得到的图像中，被检查对象物的朝向或大小等不同，该情况下有可能无法正确地判定被检查对象物中产生的缺陷。

因此，操作者需要进行将被检查对象物或放射线摄像装置固定于预先确定的位置的操作，拍摄所需的时间变长。

本发明是鉴于这种情况而进行的，其目的在于提供一种无需进行将被检查对象物与放射线摄像装置的相对位置固定于预先确定的位置的操作、且能高精度地进行被检查对象物所产生的缺陷的判定的缺陷判定装置、放射线摄像系统及缺陷判定方法。

用于解决技术问题的手段

为了解决上述课题，本发明的缺陷判定装置、放射线摄像系统及缺陷判定方法采用以下的手段。

本发明的第一形态的缺陷判定装置根据由对透过了被检查对象物的放射线进行检测的放射线摄像装置得到的检测图像数据，判定所述被检查对象物有无缺陷，该缺陷判定装置具备：位置确定单元，基于由存储单元预先存储的特征数据所表示的所述被检查对象物的特征部位的形状，确定所述检测图像数据中的所述特征部位的位置；以及缺陷判定单元，将由所述位置确定单元确定出的所述检测图像数据中的所述特征部位作为基准来提取候补缺陷(defect candidate)，基于由存储单元预先存储的缺陷特性数据所表示的缺陷的特性量和所述候补缺陷的特性量，判定所述被检查对象物有无缺陷。

根据本构成，缺陷判定装置根据对透过了被检查对象物的放射线进行检测而得到的检测图像数据，判定被检查对象物的缺陷。

并且，通过位置确定单元，基于由存储单元预先存储的特征数据所表示的被检查对象物的特征部位的形状，确定检测图像数据中的特征部位的位置。特征部位的位置的确定例如是通过特征数据与检测图像数据的模板匹配处理来进行的。由此，无论由放射线摄像装置照射了放射线时的被检查对象物的朝向或大小如何，都能确定检测图像数据中的特征部位的位置。另外，被检查对象物中的特征部位优选是其周边容易产生缺陷的部位。

另外，将已确定的检测图像数据中的特征部位作为基准，由缺陷判定单元提取候补缺陷，基于在由预先存储在存储单元中的缺陷特性数据所表示的被检查对象物中产生的缺陷的特性量、和候补缺陷的特性量，判定被检查对象物有无缺陷。这样，因为基于由缺陷特性数据所表示的缺陷的特性量和候补缺陷的特性量来判定有无缺陷，所以能高精度地进行缺陷的判定。

因此，本构成无需进行将被检查对象物与放射线摄像装置的相对位置固定到预先确定的位置的操作，且能够高精度地进行被检查对象物中产生的缺陷的判定。

在上述第一形态中，优选所述缺陷判定单元求取来自所述特征部位的所述候补缺陷的位置，并基于由与该位置相应的所述缺陷特性数据所表示的所述缺陷的特性量和所述候补缺陷的特性量，判定所述被检查对象物有无缺陷。

根据本构成，能够基于来自候补缺陷的特征部位的位置，更高精度地判定有无缺陷。

上述第一形态中，优选所述缺陷特性数据将欧几里得距离为给定阈值以下的缺陷作为一个集合体，表示每个该集合体的特性量。

根据本构成，因为将欧几里得距离为给定阈值以下的缺陷设为一个集合体，并基于集合体的特性量与候补缺陷的特性量来判定被检查对象物有无缺陷，所以能够更简单地实施精度高的有无缺陷的判定。