[发明专利]可重新配置的检测器系统

权利要求书

1.一种装置，其包含：

辐射源(118)，其经配置发出辐射(122)；

瞄准仪(120)，其经配置使用由所述辐射源(118)发出的所述辐射(122)的一部分形成射束(134)，其中所述射束(134)指向物体(104)的表面(126)，其中所述物体的所述表面包括大体非平面的表面形状；

检测器系统(114)，其经配置检测响应所述射束(134)遇到所述物体(104)所形成的反向散射(136)，其中所述检测器系统(114)的形状(138)经配置使用所述检测器系统(114)中的结构(144)从所述检测器系统(114)的第一形状改变成所述检测器系统(114)的第二形状，其中所述检测器系统(114)的所述第二形状大体符合所述物体(104)的所述大体非平面的表面形状，其中所述检测器系统(114)的所述第一形状和所述检测器系统(114)的所述第二形状是不同的，并且其中所述检测器系统(114)的所述第二形状是所述检测器系统(114)的选定形状(140)，其中所述检测器系统(114)包括若干传感器(148)，所述若干传感器(148)与所述结构(144)关联并且被配置成检测所述反向散射(136)；

机电系统，其被配置为随着可移动平台(110)相对于所述物体(104)移动而反复重新配置所述结构(144)；并且

其中：

所述可移动平台(110)与所述检测器系统(114)关联；

所述机电系统使用来自所述若干传感器(148)的数据而反复重新配置所述结构(144)；并且所述机电系统反复重新配置所述结构(144)使得所述检测器系统(114)的所述形状改变成大体符合所述物体(104)的所述大体非平面的表面形状。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述检测器系统(114)包含:

所述结构(144)，其中所述检测器系统(114)的所述形状(138)被配置成使用所述结构(144)改变成所述选定形状；和

若干个传感器阵列(142)，其包括所述若干传感器并且与所述结构(144)关联，其中所述若干个传感器阵列(142)经配置检测响应所述射束(134)遇到所述物体(104)所形成的所述反向散射(136)。

3.根据权利要求2所述的装置，其中所述结构(144)包含：

多个节段(156)，其通过若干个柔性接头(158)连接到彼此，其中所述多个节段(156)中的至少一个节段相对于所述多个节段(156)中的另一个节段围绕所述若干个柔性接头(158)中的一个柔性接头的运动改变所述检测器系统(114)的所述形状(138)。

4.根据权利要求2所述的装置，其中所述结构(144)包含：

可变形材料(160)，其中所述可变形材料(160)的变形改变所述检测器系统(114)的所述形状(138)。

5.根据权利要求2所述的装置，其中所述结构(144)包含：

柔性电路(162)，其中改变所述柔性电路(162)的配置改变所述检测器系统(114)的所述形状(138)。

6.根据权利要求2所述的装置，其中所述若干个传感器阵列(142)中的传感器阵列(146)包含：

所述若干个传感器(148)，其被布置成若干行和若干列。

7.根据权利要求6所述的装置，其中所述若干个传感器(148)中的传感器(150)包含：

闪烁器(152)；和

光检测器(154)。

8.根据权利要求6所述的装置，其中所述若干个传感器(148)中的传感器(150)是闪烁检测器、闪烁计数器、固态检测器和半导体辐射检测器中的一个。

9.根据权利要求1所述的装置，其中所述物体的所述表面形状包含凸形、凹形、曲线形和L形中的至少一个。

10.根据权利要求1所述的装置，其中所述物体的所述表面形状包含凸形、凹形、波浪形、L形、U形和环形中的至少一个。