[发明专利]可重新配置的检测器系统

说明书

技术领域

本公开总体涉及检查系统，并且具体涉及反向散射检查系统。更具体地，本公开涉及用于使用检测器检测离开物体的反向散射的方法和装置，其中检测器具有能够大体上符合所述物体的形状的形状。

背景技术

反向散射x射线系统为使用x射线检查物体的非破坏性检查系统(NDI)的示例。一些当前可用的反向散射x射线系统包括x射线管、瞄准仪和检测器。X射线管产生并发出x射线。瞄准仪将这些x射线过滤以使用大体上平行于指定方向而行进的x射线的一部分形成x射线束。

当x射线束遇到物体时，在x射线束中的一些或全部x射线被物体分散。具体地，x射线可被分散以离开物体的表面和/或物体的次表面(subsurface)。分散的x射线称为反向散射。检测器检测该反向散射中的一些或全部。检测到的反向散射可用于生成物体的图像数据，该图像数据可用于形成物体的一个或多个图像。例如，当x射线束指向物体上的特定位置时所检测到的反向散射可用来生成图像中的像素的亮度值，该值对应于物体上的特定位置。

X射线束可以以选定图案，例如光栅图案沿物体移动，使得可以产生用于物体上的不同位置的图像数据。在一个示例性示例中，x射线束所指的方向可改变，使得x射线束相对于物体的入射角改变。该图像数据用于形成物体的一个或多个图像，该一个或多个图像可用于确定在物体中是否存在任何不一致。

在一些当前可用的反向散射x射线系统中所使用的检测器基本上具有平面形状。换句话说，这些检测器具有扁平形状。当反向散射x射线系统中的检测器具有扁平形状时，能够在若干个位置中使用反向散射x射线系统的位置的数量可能是有限的。例如，相对于具有曲线形状的物体放置带有具有扁平形状的检测器的反向散射x射线系统比期望的更困难。

进一步地，利用具有扁平形状的检测器，当物体具有曲线形状时，由检测器检测到的反向散射的量可能小于相对于物体的x射线束不同入射角的期望的量。换句话说，当物体具有曲线形状时，由检测器检测到的反向散射的量可能小于对于x射线束的不同入射角的期望的量。

因此，当具有扁平形状的检测器用于检测离开曲线物体的反向散射时，使用其生成的图像数据所形成的图像可以不具有期望的质量水平。因此，将期望一种具有考虑以上所讨论的至少一些问题以及其他可能问题的方法和装置。

发明内容

在一个示例性实施例中，装置包括辐射源、瞄准仪和检测器系统，辐射源经配置发出辐射。瞄准仪经配置使用由辐射源发出的辐射的一部分形成射束。该射束指向物体的表面。检测器系统经配置检测响应射束遇到物体所形成的反向散射。检测器系统的形状经配置变成选定的形状。

在另一个示例性实施例中，反向散射x射线系统包含x射线管、瞄准仪和检测器系统。X射线管经配置发出x射线。瞄准仪经配置使用由x射线管发出的x射线的一部分形成x射线束。X射线束指向物体的表面。检测器系统包含若干传感器阵列和结构。若干传感器阵列经配置检测响应x射线束遇到物体所形成的反向散射。检测器系统的形状经配置通过使用所述结构而变成选定的形状。

在再一个示例性实施例中，其提供了一种用于检查物体的方法。在反向散射检查系统中的检测器系统的选定形状被识别。检测器系统的形状变成选定的形状。朝向物体的表面发出射束。该射束使用从辐射源发出的辐射的一部分形成。使用具有选定形状的检测器系统，检测响应射束遇到物体所形成的反向散射。

特征和功能可在本公开的各种实施例中独立实现，或可在另一些实施例中组合实现，其中实施例的进一步细节参考以下具体实施方式和附图能够了解到。

附图说明

在随附权利要求中阐述了被认为是示例性实施例特有的新颖特征。然而，当结合附图阅读时，通过参考本公开的示例性实施例的以下具体实施方式，将最好地理解示例性实施例以及它们的优选使用模式、进一步的目标及其特征，其中：

图1为根据示例性实施例的以方框图形式的检查环境的说明；

图2为根据示例性实施例的检查环境的说明；

图3为根据示例性实施例的由反向散射检查系统检查的飞机的横截面视图的说明；

图4为根据示例性实施例的由反向散射检查系统检查的飞机的横截面视图的说明；

图5为根据示例性实施例的检测器系统的说明；

图6为根据示例性实施例的传感器阵列的说明；

图7为根据示例性实施例的以流程图形式的用于检查物体的过程的说明。

具体实施方式