[发明专利]分析结构化光模式

说明书

技术领域

实施例通常涉及结构化光模式。更具体地，实施例涉及利用可以在三个方向(例如垂直、水平和对角线)上被解码的结构化光模式。

背景技术

结构化光可以用于将像素的已知模式投射到目标图像上。当图像被返回时，像素的模式按照其被变形的方式可以允许视觉系统计算目标图像中的深度和表面信息。

典型地，可以使用可以在一个方向(即，水平、垂直)上被解码的几组专门设计的特征来对信息进行编码。然而，在一些情况下，图像的特定方面会要求更特别的考虑。例如，在具有高重要性的小对象(例如人的手指)的情况下，一维解码可能是不够的。

附图说明

通过阅读下面的说明书和所附权利要求并且通过参考下面的附图，本发明实施例的各种优点对于本领域中的技术人员将变得明显，在附图中：

图1是根据本发明实施例可以分析结构化光图像的计算机系统的示例的方框图；

图2-5是根据本发明实施例的模式的示例的说明；

图6-8是根据本发明实施例的索引的示例的说明；

图9是根据本发明实施例的模式的示例的说明；

图10是根据本发明实施例的对极几何的示例的说明；

图11是根据本发明实施例的结构化光图像的分析方法的示例的流程图；

图12是根据实施例的第二系统的示例的方框图；以及

图13是根据实施例的小形状因子设备的示例的方框图。

具体实施方式

现在转到图1，示出了可以分析结构化光图像的计算机系统100的示例的方框图。计算机系统100可以包括计算设备10、第一模式载玻片(slide)50和第二模式载玻片60。

计算设备10可以是可以执行逻辑操作序列的任何可编程机器等等。在这一实施例中，计算设备可以是桌上型计算机。计算设备10可以包括处理部件11、接口12、传感器13、相机14、投影仪15和存储器16。

处理部件11可以包括可以用于执行计算机可读可执行指令的至少一个计算机处理器。例如，如将更详细讨论的，处理部件11可以用于执行目的在于结构化光图像的分析的应用。接口12可以允许用户与计算设备10进行交互。在这一实施例中，接口12可以是显示图形用户界面(GUI)的桌上型计算机监视器。传感器13可以是用于检测电磁能的传输的传感器。在这一实施例中，传感器13可以是照片检测器。

相机14可以是被配置为捕获图像或者对象或图像的视频传送(video feed)的任何设备。投影仪15可以是将图像投射到表面上的光学设备。在这一实施例中，投影仪15可以包括投影屏幕。

存储器16可以是被配置为存储数据的任何设备。在这种情况下，存储器16可以存储第一模式17、第二模式18、返回的图像19和处理应用20等等。

如将更详细讨论的，第一模式17可以是可以用于在三个方向上对结构化光图像的特征进行解码的模式。在这一实施例中，第一模式17可以采取位图图像的形式。第一模式17可以用于制造反映第一模式17的特征的第一模式载玻片50。

如将更详细讨论的，第二模式18可以是可以用于在三个方向上对结构化光图像的特征进行解码的模式。在这一实施例中，第二模式18也可以采取位图图像的形式。第二模式18可以用于制造反映第二模式18的特征的第二模式载玻片60。

返回的图像19可以是作为投射的结果(例如使用投影仪15)而返回的图像。在这一实施例中，返回的图像19可以是使用第一模式17返回的图像。在另一实施例中，返回的图像可以是使用第二模式18返回的图像。

处理应用20可以是可以由处理器(例如，处理部件11)执行的软件应用。处理应用20可以被配置为分析返回的结构化光图像(例如，返回的图像19)。

如将更详细讨论的，返回的结构化光图像的分析可以包括检测在对于模式图像(例如，第一模式17)制造的模式载玻片上反映的第一特征的位置，识别第一特征的特征类型，并且确定包括第一特征的特征的唯一邻域。它可以进一步包括利用索引来通过确定第一特征在模式载玻片上的水平位置和垂直位置来定位第一特征，并且计算第一特征的深度。可以在目标图像的处理期间使用第一特征的水平位置和垂直位置以便确定第一特征的深度。使用结构化光的深度测量可以在各种应用中被使用。这些可以例如包括运动识别(例如人手势识别)、用于生产控制的精确形状测量(例如，在涡轮机叶片的情况下)和在制造期间的精确对准(例如，计算机体系结构部件放置)。