[发明专利]模具测量装置有效

专利信息
申请号: 201380053769.3 申请日: 2013-09-30
公开(公告)号: CN104718033A 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 岩本正己 申请(专利权)人: 株式会社天田
主分类号: B21D28/34 分类号: B21D28/34;B21D28/00;B23Q17/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 丁文蕴;金成哲
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 模具 测量 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及用于对研磨后的阳模主体、研磨后的阴模进行测量的模具测量装置[tool measuring apparatus]。

背景技术

安装于转塔式冲压机的模具[tool]由阳模以及阴模构成。阳模主体的阳模刃部[punch blade]、阴模的阴模刃部[die blade]产生磨损。因此,需要对阳模刃部、阴模刃部进行研磨(参照下述专利文献1以及2)。另外,在研磨前或者研磨后,为了判断阳模主体、阴模是否到达研磨极限,对阳模主体、阴模进行检查(参照下述专利文献3)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2000-33565号公报

专利文献2:日本特开2007-75947号公报

专利文献3:日本特开2000-33536号公报

发明内容

在专利文献1以及2所公开的装置中,对阳模、阴模与砂轮的接触位置进行电检测,从而对阳模、阴模进行磨削(研磨)。在专利文献3所公开的装置中,为了判断磨损是否在允许范围内,对阳模、阴模进行检查。但是,在专利文献1~3所公开的装置中,未进行研磨后的阳模、阴模的测量。因此,为了进行阳模、阴模的管理,需要用于在阳模、阴模的研磨后进行测量的测量装置。

在对研磨后的阳模、阴模进行测量的情况下,能够使用高度计等进行测量。但是,阳模的高度(长度)与阴模的高度通常较大地不同。因此,为了利用一个高度计对阳模以及阴模双方进行测量,需要大小[size]与较大的阳模一致的测量范围较广的高度计。此外,即便在使用线性标尺等测量器的情况下,也需要大小[size]与较大的阳模一致的测量范围较广的线性标尺。即,需要测量范围较广的价格高昂的测量器。

因此,本发明的目的在于提供一种即便在阳模主体的大小与阴模的大小较大地不同的情况下,也能够容易地对阳模主体以及阴模进行测量的模具测量装置。

本发明提供一种模具测量装置,其对阳模主体以及阴模的高度进行测量,上述模具测量装置的特征在于,具备测量器,该测量器对从预先设定的阳模基准位置至上述阳模主体的端面的距离、以及从预先设定的阴模基准位置至上述阴模的端面的距离进行测量,上述阳模基准位置与上述阴模基准位置不同地进行设定。

上述阴模基准位置优选设定为比上述阳模基准位置更接近上述测量器。

另外,上述模具测量装置优选进一步具备供上述阴模载置的阴模支撑部件以及对上述阳模主体进行支撑的阳模主体支撑部件,上述阴模基准位置设定于上述阴模支撑部件,上述阳模基准位置设定于阳模主体支撑部件,对上述阳模主体进行支撑的支撑部进一步形成于上述阴模支撑部件。

另外,上述模具测量装置优选进一步具备:基于上述测量器的测量结果对上述阳模主体或者上述阴模的上述高度进行计算的运算单元;读取标记于上述阳模主体或者上述阴模的识别编码的编码读取器;以及用于与管理模具的模具管理单元进行通信的通信单元。

此处,上述测量器优选具备能够移动的测头,该测头与定位于上述阳模基准位置的上述阳模或者基于上述阴模基准位置而被定位的上述阴模的上述端面抵接,设定成为上述测头的移动位置的基准的测量基准位置,固定地设定从上述测量基准位置至上述阴模基准位置的距离L1,固定地设定从上述阴模基准位置至上述阳模基准位置的距离L2,固定地设定从上述测量基准位置至上述阳模基准位置的距离L3,若将在上述测头抵接于上述阴模的上述端面时的上述测头距上述测量基准位置的行程设为ST1,将上述测头抵接于上述阳模主体的上述端面时的行程设为ST2,则上述运算单元通过(L1-ST1)对上述阴模的上述高度进行计算,或者,通过(L3-ST2)=(L1-ST2+L2)对上述阳模主体的上述高度进行计算。

另外,上述模具测量装置优选与模具研磨装置一体化或者设置为与模具研磨装置邻接。

附图说明

图1是表示实施方式的模具测量装置的立体说明图。

图2是表示上述模具测量装置的主要部分的立体图(阳模测量时)。

图3是表示上述模具测量装置的主要部分的立体图(阴模测量时)。

图4是上述主要部分的简要侧视图。

图5是上述模具测量装置的框图。

具体实施方式

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