[发明专利]用于确定薄膜卷的卷绕质量的方法

权利要求书

1.用于确定薄膜(30)在卷绕辊(20)上的薄膜卷(10)的卷绕质量的方法，具有以下的步骤：

-薄膜(30)在卷绕辊(20)上卷绕期间直接在薄膜卷(10)上确定薄膜卷(10)的卷硬度(WH),作为薄膜(30)的各薄膜层之间的空气隙的大小的尺度；

-确定薄膜卷(10)的所确定的卷硬度(WH)与薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的至少一个预定值(V1、V2)的偏差；

-根据所确定的偏差来确定薄膜卷(10)的卷绕质量。

2.按权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的步骤连续地或者基本上连续地进行。

3.按权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的步骤、确定薄膜卷(10)的所确定的卷硬度(WH)与薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的至少一个预定值(V1、V2)的偏差的步骤、根据所确定的偏差来确定薄膜卷(10)的卷绕质量的步骤连续地或者基本上连续地进行。

4.按权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述确定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的步骤在卷绕期间无接触地实施。

5.按权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述确定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的步骤在卷绕期间借助下列方法中的至少一种方法实施：

-超声波测量；

-激光测量；

-雷达波测量、太赫兹波测量、微波测量；

-接触式滚轮测量。

6.按权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，至少两个预定值(V1、V2)作为上预定值(V2)和作为下预定值(V1)限定一个预定范围(VB)。

7.按权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，实施输入至少一个影响卷绕质量的工作参数的步骤，其中，所述工作参数以特殊的方式按照薄膜卷(10)的薄膜(30)的尺寸进行设计。

8.按权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，使用所确定的卷绕质量和/或所确定的偏差作为输入参量用于调节至少一个影响卷绕质量的工作参数，所述工作参数包括如下：

-接触辊(40)的料幅拉力(BZ)；

-卷绕辊(20)的料幅拉力(BZ)；

-接触辊(40)的压紧力(AP)。

9.按权利要求8所述的方法，其特征在于，在调节所述至少一个工作参数时，考虑在薄膜卷(10)卷绕时出现的径向的压力分布。

10.按权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，沿着横向于薄膜(30)的卷绕方向(50)的方向，在卷绕辊(20)上卷绕期间至少双重分段确定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)。

11.按权利要求10所述的方法，其特征在于，沿着横向于薄膜(30)的卷绕方向(50)的方向，通过调节至少一个工作参数使薄膜(30)的制造轮廓和/或卷硬度(WH)保持为恒定的或者基本上恒定的。

12.按权利要求10所述的方法，其特征在于，在薄膜(30)的宽度上，通过调节至少一个工作参数使薄膜(30)的制造轮廓和/或卷硬度(WH)保持为恒定的或者基本上恒定的。

13.按权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，基于所确定的卷绕质量和/或所确定的偏差，在一个在先的制造过程中实施薄膜(30)的制造轮廓的改变。

14.一种用于监控薄膜(30)在卷绕辊(20)上的薄膜卷(10)的卷绕质量的监控设备(100)，其特征在于，具有至少一个用于在薄膜(30)在卷绕辊(20)上卷绕期间直接在薄膜卷(10)上确定薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的传感器装置(110),作为薄膜(30)的各薄膜层之间的空气隙的大小的尺度；还具有控制装置(120)，该控制装置用于确定薄膜卷(10)的所确定的卷硬度(WH)与薄膜卷(10)的卷硬度(WH)的至少一个预定值(V1、V2)的偏差和根据所确定的偏差来确定薄膜卷(10)的卷绕质量。

15.按权利要求14所述的监控设备(100)，其特征在于，控制装置(120)设计为用于实施权利要求1至13中任一项所述的方法。

16.按权利要求14或15所述的监控设备(100)，其特征在于，控制装置(120)设计为用于在手动的、半自动化的和全自动化的工作之间简单地转换。