[发明专利]用于X-射线图像信息的图像校正的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201380063142.6 申请日: 2013-09-29
公开(公告)号: CN104838288B 公开(公告)日: 2018-05-25
发明(设计)人: C·赫尔曼 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李光颖;王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 光电导体 射线图像信息 射线探测器 读出信息 光电导 图像校正 光电流 光子 校正 空穴 方法和装置 辐照 补偿信息 持续电流 欧姆接触 射线辐射 图像信息 电流比 像素 输出 辐射
【权利要求书】:

1.一种用于X-射线图像信息的图像校正的方法(50),包括:

接收(52)X-射线探测器元件(14)的读出信息;

其中,所述读出信息取决于生成光电流的撞击X-辐射(20);

根据所述读出信息来确定(56)光子能量和/或光子计数;以及每个探测器像素元件(18)的所述光电流;

通过对所述光电流补偿持续电流来确定(58)补偿的光电流;

确定(60)补偿信息,包括基于所述补偿的光电流来确定补偿的光子能量;并且

采用所确定的补偿信息来对所述读出信息补偿(54)光电导增益。

2.根据权利要求1所述的方法,

其中,采用所述补偿信息来对每个X-射线探测器像素元件(18)补偿所述光电导增益。

3.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,其中,通过用于采集所述读出信息的X-射线系统(10)的校准操作来确定针对每个像素的所述光电导增益的所述补偿信息。

4.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,其中,所述补偿信息是取决于X-辐射的通量的函数和具有取决于X-辐射的通量的每个探测器像素的至少一个值的查找表之一。

5.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,还包括补偿基线偏移,包括:

确定(62)所述光子能量是否超过多个光子能量阈值的定义的光子能量阈值;

其中,确定的阈值的偏移能够由所述持续电流引入;并且

采用所述补偿信息来补偿(64)所述偏移以获得补偿的光子能量阈值。

6.根据权利要求1至2中的任一项所述的方法,还包括:

通过采用基线复位来对包括光子能量信息的所述读出信息补偿缓慢变化的持续电流。

7.一种用于X-射线图像信息的图像校正的装置(26),包括:

存储元件(30),其用于存储接收到的对象(22)的读出信息;以及

处理器(28),其用于生成补偿的读出信息;

其中,所述装置(26)适于执行根据前述权利要求中的任一项所述的方法(50)。

8.一种X-射线系统(10),其包括根据权利要求7所述的装置(26)。

9.根据权利要求7所述的装置(26)在X-射线系统和CT系统之一中的用途。

10.一种计算机可读介质,在所述计算机可读介质中存储了用于X-射线图像信息的图像校正的计算机程序,所述计算机程序当由处理器(28)运行时适于执行根据权利要求1至6中的任一项所述的方法(50)。

11.一种用于X-射线图像信息的图像校正的设备,包括:

用于接收X-射线探测器元件(14)的读出信息的模块;

其中,所述读出信息取决于生成光电流的撞击X-辐射(20);

用于根据所述读出信息来确定光子能量和/或光子计数;以及每个探测器像素元件(18)的所述光电流的模块;

用于通过对所述光电流补偿持续电流来确定补偿的光电流的模块;

用于确定补偿信息,包括基于所述补偿的光电流来确定补偿的光子能量的模块;以及

用于采用所确定的补偿信息来对所述读出信息补偿光电导增益的模块。

12.根据权利要求11所述的设备,

其中,采用所述补偿信息来对每个X-射线探测器像素元件(18)补偿所述光电导增益。

13.根据权利要求11至12中的任一项所述的设备,其中,通过用于采集所述读出信息的X-射线系统(10)的校准操作来确定针对每个像素的所述光电导增益的所述补偿信息。

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