[发明专利]用于X-射线图像信息的图像校正的方法和装置

说明书

本发明涉及X‑射线图像信息的校正，例如与X‑射线探测器元件中的持续电流有关的X‑射线图像信息的校正。X‑射线探测器可以被实现为具有欧姆接触的光电导体，所述光电导体输出取决于撞击在各自的光电导体像素上的光子的能量和量的光电流。这样的光电导体可以呈现光电导增益，即当由X‑射线辐射辐照时测得的电流比将由仅仅生成电子‑空穴对的撞击光子引起的电流更高。为了补偿光电导增益，提供了一种用于X‑射线图像信息的图像校正的方法(50)，所述方法包括接收(52)X‑射线探测器元件(14)的读出信息，其中，所述读出信息取决于生成光电流的撞击X‑辐射(20)，并且采用补偿信息来对所述读出信息补偿(54)光电导增益。

技术领域

本发明总体上涉及X-射线成像技术。

更具体地，本发明涉及X-射线图像信息的校正，例如与X-射线探测器元件中的持续电流有关的X-射线图像信息的校正。尤其地，本发明涉及用于X-射线图像信息的图像校正的方法、用于X-射线图像信息的图像校正的装置、包括根据本发明的装置的X-射线系统、这样的装置在X-射线系统和CT系统之一中的用途、计算机可读介质以及程序单元。

背景技术

要采集其X射线图像的诸如患者的要被检查的对象通常被布置在诸如X-射线管的X-射线生成设备与在X-射线辐射的路径中的X-射线探测器元件之间。源自于X-射线生成设备的所述X-射线辐射穿透对象，随后到达X-射线探测器元件。要被检查的对象的内部结构或组织结构提供在经过对象之后到达X-射线探测器的X-射线射束的空间衰减。随后通过X-射线探测器探测由对象空间衰减的X-射线辐射。然后所述衰减信息被用于生成对象的X-射线图像信息。

为了获得所述X-射线图像信息，X-射线探测器元件记录到达探测器的光子的光子能量和/或光子计数。光子能量生成探测器元件中，尤其是光电探测器的每个像素元件中的光电流，所述光电流基本上被读出，即被提供作为X-射线探测器到随后电子设备或电路的输出以用于生成所述图像信息。

X-射线探测器可以被实现为具有欧姆接触的光电导体，所述光电导体输出取决于撞击在各自的光电导体元件或X-射线探测器像素元件上的光子的能量和量的光电流。具有欧姆接触的这样的光电导体可以呈现光电导增益η，即当由X-辐射照射时这样的X-射线探测器像素的测得的电流比将由仅仅生成电子-空穴对的撞击光子引起的电流更高，可能高的多。仅仅由可以光学的、X射线或其他类型的撞击光子生成的电流被称为光电流。

US 6,759,658 B2描述了具有大动态范围的X-射线探测器，还描述了计数和积分通道的组合。

WO 2007/010448 A2描述了具有多色谱的X-射线探测器成像，还描述了具有若干能量阈值的计数通道和积分通道的组合。

发明内容

因此，本专利申请的一个方面可以在于对X-射线探测器元件的读出信息补偿光电导增益或换言之补偿持续电流。

因此，提供一种用于X-射线图像信息的图像校正的方法、一种用于X-射线图像信息的图像校正的装置、一种包括根据本发明的装置的X-射线系统、根据本发明的装置的用途、根据独立权利要求的一种用于X-射线图像信息的图像校正的计算机可读介质以及程序单元。从从属权利要求可以获取优选实施例。

上述也适用于被用作X-射线探测器的转换材料以对单个光子进行计数，尤其用于计算机断层摄影成像的诸如CdTe和CZT半导体的直接转换半导体。因此，本发明的方法和装置尤其可以与使用电离辐射并且采用直接转换器用于将所述辐射转换成电信号的所有成像模态一起被采用。

在直接转换半导体中呈现的光电导增益可以被认为是归因于空穴陷阱的存在以及空穴的移动性小于电子的移动性约10倍的事实。除此之外，深陷阱比浅陷阱更重要。