[发明专利]真空劣化监视装置有效

专利信息
申请号: 201380064675.6 申请日: 2013-11-27
公开(公告)号: CN104854676A 公开(公告)日: 2015-08-19
发明(设计)人: 井上直明;安部淳一;田边智子;矢野知孝;吉田晓 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01H33/668 分类号: H01H33/668;H01H9/54;H01H33/662;H02B13/02;H02B13/065
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 金光华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 真空 监视 装置
【权利要求书】:

1.一种真空劣化监视装置,监视金属制罐形真空隔断器的真空阀的真空劣化,该金属制罐形真空隔断器在金属制罐的内部具备所述真空阀,并通过套管而将所述真空阀的连接线向所述金属制罐外导出,所述真空劣化监视装置的特征在于,

所述套管具备具有低通功能的内部屏蔽物,所述真空劣化监视装置具备:

第一天线,设置在所述金属制罐的内部;

第二天线,设置在所述金属制罐的外部;

第一探测部,测定由所述第一天线检测到的所述真空阀的部分放电所引起的电磁波的强度;

第二探测部,测定由所述第二天线检测到的所述金属制罐外的噪声所引起的电磁波的强度;以及

判定部,通过比较由所述第一探测部探测到的电磁波的强度和由所述第二探测部探测到的电磁波的强度来判定所述真空阀的真空劣化,

所述第一探测部以及第二探测部具备频率滤波器,所述频率滤波器使所述真空阀的真空劣化时发生的放电所引起的电磁波中的、由所述内部屏蔽物衰减的频带通过。

2.根据权利要求1所述的真空劣化监视装置,其特征在于,

所述判定部在由所述第一探测部探测到的电磁波的强度小于由所述第二探测部探测到的电磁波的强度的情况下判定为外部噪声,在由所述第一探测部探测到的电磁波的强度大于由所述第二探测部探测到的电磁波的强度的情况下判定为所述真空阀的部分放电所致的真空劣化。

3.根据权利要求1所述的真空劣化监视装置,其特征在于,

将所述金属制罐形真空隔断器并列设置了三相的量。

4.根据权利要求3所述的真空劣化监视装置,其特征在于,

所述第一探测部对所述第一天线针对每个相接收到的电磁波一并地进行强度测定。

5.根据权利要求1所述的真空劣化监视装置,其特征在于,

所述第一天线以及第二天线是适合于接收所述真空阀的真空劣化时发生的放电所引起的电磁波中的、通过所述套管的低通滤波器功能衰减的频带的特性的天线。

6.根据权利要求1所述的真空劣化监视装置,其特征在于,

所述第一探测部以及第二探测部具备检测接收电磁波的峰值的检波电路。

7.根据权利要求1所述的真空劣化监视装置,其特征在于,

所述判定部具备:

比较器电路,比较由所述第一探测部探测到的电磁波的强度和由所述第二探测部探测到的电磁波的强度;

脉冲输出部和脉冲计数器,将该比较器电路的输出作为脉冲并进行计数;以及

判定电路,在该脉冲计数器的输出超过了阈值时判定为所述真空阀的真空劣化。

8.根据权利要求3所述的真空劣化监视装置,其特征在于,

所述第二天线设置于所述金属制罐的上部,并且在来自与所述套管连接的输电线的噪声所致的电磁波的接收灵敏度大致相等的位置。

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