[发明专利]真空劣化监视装置有效

专利信息
申请号: 201380064675.6 申请日: 2013-11-27
公开(公告)号: CN104854676A 公开(公告)日: 2015-08-19
发明(设计)人: 井上直明;安部淳一;田边智子;矢野知孝;吉田晓 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01H33/668 分类号: H01H33/668;H01H9/54;H01H33/662;H02B13/02;H02B13/065
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 金光华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 真空 监视 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及真空隔断器的真空劣化监视装置。

背景技术

气体隔断器能够利用SF6气体的优良的绝缘性能以及隔断性能来实现隔断,但SF6气体的全球变暖系数高,所以期望环境负荷低的隔断器。另一方面,真空隔断器能够通过高真空中的优良的绝缘性能以及隔断性能来实现大电流的隔断。另外,由于不使用上述SF6气体而成为环境低负荷,所以真空隔断器的高电压应用得到了发展。

此处,在气体隔断器的情况下,通过压力计来监视气体气压,在由于气体泄漏而低于绝缘/隔断所需的气体气压的情况下,输出异常信号,并且锁定气体隔断器的操作。另一方面,在真空隔断器的情况下也是,如果由于真空容器的龟裂等而发生真空劣化,则无法维持绝缘/隔断性能,所以要求监视真空度的方法。

作为非接触地监视真空隔断器的真空度的方法之一,有如下方法:通过天线来探测在发生了真空劣化时在真空容器内发生的部分放电的电磁波。用天线来检测部分放电的电磁波的方法自身在使用了SF6气体的气体绝缘开闭装置中也是普遍的,在气体绝缘开闭装置中探测500MHz~1500MHz带程度的放电的高频分量。另一方面,已知低真空中的部分放电的频率比上述低。在专利文献1中,通过探测真空劣化时的低真空中的放电电磁波的20~100MHz的信号分量来判断真空劣化。

专利文献1:日本特开2002-184275号公报

专利文献2:日本特开平9-121409号公报

专利文献3:国际公开2001/065653号公报

专利文献4:日本特开2002-71743号公报

发明内容

如上所述,在专利文献1中,检测了放电电磁波的20~100MHz的信号分量,但该频带是FM广播、电视等广播波的频带,所以存在如下可能性:受到广播波所致的外来噪声的影响而真空劣化监视装置发生误动作。另外,真空隔断器经由输电线而与例如变压器等其他设备连接,所以还有受到来自其他设备的传导噪声的影响的情况。

另一方面,专利文献2是气体绝缘开闭装置的部分放电监视的例子,通过在罐外安装了的天线1来检测从气体绝缘开闭装置的绝缘隔板泄漏出来的罐内放电的电磁波。另外,也通过在远离罐外的绝缘隔板的位置安装了的天线2来检测电磁波,并取通过天线1和天线2检测到的信号的差分,从而去除广播波等的外来噪声的分量,仅评价罐内放电的信号。但是,在通过罐外的天线探测罐内的放电时,存在检测灵敏度恶化这样的缺点。

本发明想要得到一种可靠性高的真空劣化监视装置,能够在内置真空阀的金属制罐形真空隔断器中检测真空阀的真空劣化。

本发明的真空劣化监视装置监视金属制罐形真空隔断器的真空阀的真空劣化,该金属制罐形真空隔断器在金属制罐的内部具备所述真空阀,并通过套管将真空阀的连接线向金属制罐外导出,其中,所述套管具备具有低通功能的内部屏蔽物,所述真空劣化监视装置具备:第一天线;设置在所述金属制罐的内部;第二天线,设置在金属制罐的外部;第一探测部,测定由第一天线检测到的真空阀的部分放电所引起的电磁波的强度;第二探测部,测定由第二天线检测到的金属制罐外的噪声所引起的电磁波的强度;以及判定部,通过比较由第一探测部探测到的电磁波的强度和由第二探测部探测到的电磁波的强度来判定真空阀的真空劣化,所述第一探测部以及第二探测部具备频率滤波器,所述频率滤波器使所述真空阀的真空劣化时发生的放电所引起的电磁波中的、由所述内部屏蔽物衰减的频带通过。

根据本发明,在金属制罐内设置了的真空阀的部分放电的探测不会受金属制罐外的噪声妨碍,所以能够提高真空阀的真空劣化监视的可靠性。

附图说明

图1是包括本发明的实施方式1的真空劣化监视装置的真空隔断器的示意侧剖面图。

图2是在本发明的实施方式1的真空隔断器中设置了的套管(bushing)的示意侧剖面图。

图3是包括本发明的实施方式1的真空劣化监视装置的真空隔断器的示意俯视图。

图4是示出本发明的实施方式1的真空劣化监视装置的真空劣化检测部的框图。

图5是示出本发明的实施方式2的真空劣化监视装置的真空劣化检测部的框图。

图6是示出真空阀内的部分放电所引起的电磁波的200~300MHz带中的测定结果的图。

(符号说明)

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