[发明专利]用于X射线荧光光谱分析的多个样品制备

权利要求书

1.一种热重分析仪，包括一炉子，位于所述炉子内的样品架，用于混合所述样品架内待分析样品物质和助熔剂的混合机构，所述混合机构包括位于所述炉子内的其上支撑有所述样品架的平台，一具有站位的倾斜部件，所述站位具有中心点和从所述中心点偏移的直立销，以及用于相对于所述倾斜部件移动所述平台的机构，以使所述样品架与所述站位对准，并且所述直立销托住所述样品架并使所述样品架沿第一方向倾斜。

2.如权利要求1所述的分析仪，其中所述混合机构还包括通过来回快速移动所述平台并伴以突然停止来对所述样品架中的样品物质和助熔剂进行搅拌的机构。

3.一种用于分析样品物质和助熔剂的热重分析仪，包括一炉子，位于所述炉子内的样品架，用于混合所述样品架内待分析样品物质和助熔剂的混合机构，所述混合机构包括位于所述炉子内的其上支撑有所述样品架的平台，一具有站位的倾斜部件，所述站位具有中心点和从所述中心点偏移的直立销，以及用于相对于所述倾斜部件移动所述平台的机构，以使所述样品架与所述站位对准，并且所述直立 销托住所述样品架并使所述样品架倾斜，随后来回快速移动所述平台并伴以突然停止。

4.一种用于分析样品物质和助熔剂的热重分析仪，包括一炉子，位于所述炉子内的样品架，用于混合所述样品架内待分析样品物质和助熔剂的混合机构，所述混合机构包括位于所述炉子内的其上支撑有所述样品架的平台，一具有一站位的倾斜部件，所述站位具有中心点和从所述中心点偏移的直立销，以及用于相对于所述倾斜部件移动所述平台的机构，以使所述样品架与所述站位对准，并且所述直立销托住所述样品架并使所述样品架沿一个方向倾斜，所述倾斜部件具有第二站位，所述第二站位具有中心点并且包括一直立销，所述第二站位的所述直立销沿另一方向从所述第二站位的所述中心点偏移，以及用于相对于所述倾斜部件移动所述平台的机构，以使每一个站位的所述直立销托住所述样品架，并且沿由所述对准的站位的所述直立销的位置确定的方向倾斜样品架。

5.如权利要求4所述的分析仪，其中所述混合机构还包括通过来回快速移动所述平台并伴以突然停止来对所述样品架中的样品物质和助熔剂进行搅拌的机构。

6.一种用于分析样品物质和助熔剂的热重分析仪，包括一炉子，位于所述炉子内的样品架，用于混合所述样品架内待分析样品物质和助熔剂的混合机构，所述混合机构包括位于所述炉子内的其上支撑有所述样品架的平台，一具有站位的倾斜部件，所述站位具有中心点和从所述中心点偏移的直立销，以及用于相对于所述倾斜部件移动所述平台的机构，以使所述样品架按顺序与所述站位中的每一个对准，并且当与所述站位中的每一个对准时，相对于所述倾斜部件移动所述平台，以使所述样品架与所述站位对准，并且在每一站位所述直立销托住所述样品架并使所述样品架沿第一方向倾斜，以及用于相对于所述倾斜部件移动所述平台的机构，以使所述样品架按顺序与所述站位中的每一个对准，并且当与所述站位中的每一个对准时，相对于所述倾斜部件移动所述平台，以使所述站位中的每一个的所述直立销托住所述样品架，并且沿由所述对准的站位的所述直立销的位置确定的方向倾斜所述样品架。

7.如权利要求6所述的分析仪，其中所述混合机构还包括通过来回快速移动所述平台并伴以突然改变来对所述样品架中的样品物质和助熔剂进行搅拌的机构。

8.一种用于在热重分析仪中制备用于分析的样品的方法，所述热重分析仪包括一炉子，位于所述炉子内的可移动平台，具有多个站位的倾斜部件，每一个站位具有中心点和一直立销，所述直立销安装在沿不同方向从所述站位的所述中心点偏移的位置上，所述方法包括步骤：

(a)提供容纳有待分析样品物质和助熔剂的样品架，所述样品架适合用于光谱分析；

(b)将所述样品架放置于所述炉子内的所述可移动平台之上，以加热所述样品物质和助熔剂；

(c)在所述炉子内混合所述样品架中的待分析物质和助熔剂，通过相对于所述倾斜部件移动所述可移动平台以使所述样品架与所述倾斜部件的相继设置的站位对准，并且每一个对准的站位的直立销托住所述样品架，并且沿由所述对准的站位的所述直立销的位置确定的方向倾斜样品架。

9.如权利要求8所述的方法，其中混合所述待分析样品物质和助熔剂的步骤包括在平台移动时使所述样品架沿不同方向反复倾斜的步骤。