[发明专利]使用流探针的菌斑检测

权利要求书

1.一种用于检测在表面(31，33)上物质(116)的存在的装置(100，100)，所述装置(100，100')包括：

被配置成浸入第一流体(11)中的远端探针部(110)，所述远端探针部(110)限定具有开放端口(136，2604)的远端尖端(112，112')，以使第二流体(30)能够穿过其通过，

所述装置(100，100')被配置使得，穿过所述远端尖端(112，112')的所述第二流体(30)通过，使基于与至少部分阻碍穿过所述远端尖端(112，112')的所述开放端口(136，2604)的所述流体(30)通过的物质相关的信号的测量，能够检测可能存在于所述表面(31，33)上的所述物质(116)，其中所述远端尖端(112，112')具有非均匀磨损轮廓。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述非均匀磨损轮廓具有至少两个分别具有不同的磨损特性的区域(3006，3008)。

3.根据权利要求2所述的检测装置，其中所述至少两个区域中的至少一个区域包括被嵌入第二材料中的第一材料。

4.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述非均匀磨损轮廓包括被置于另一材料(3021，3025)上的材料层(3018，3022)。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述非均匀磨损轮廓包括根据两种不同的工艺处理的材料，使得所述材料表现出两种不同的磨损特性。

6.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述非均匀磨损轮廓包括根据两个不同定向(3030，3032)来定向的材料，使得所述材料表现出两种不同的磨损特性。

7.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述非均匀磨损轮廓包括圆形的远端尖端(3000)。

8.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述非均匀磨损轮廓包括具有两个不同壁厚(3044，3046)的非均匀壁厚。

9.根据权利要求1所述的检测装置，其中所述非均匀磨损轮廓包括高点和低点，其中所述磨损特性在所述高点处比在所述低点处更快。

10.一种用于检测在表面(31，33)上物质(116)的存在的方法，所述方法包括：

将远端探针部(110)浸入第一流体(11)中，所述远端探针部(110)限定具有开放端口(136，2604)的远端尖端(112，112')，以使第二流体(30)能够穿过其通过，并且

由于穿过所述远端尖端(112，112')的所述第二流体(30)的通过，基于与至少部分阻碍穿过所述远端尖端(112，112')的所述开放端口(136，2604)的所述流体(30)的通过的物质相关的信号的测量，检测可能存在于所述表面(31，33)上的物质(116)，其中所述远端尖端(112，112')具有非均匀磨损轮廓。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述非均匀磨损轮廓具有至少两个分别具有不同磨损特性的区域(3006，3008)。

12.根据权利要求10所述的方法，其中所述至少两个区域中的至少一个区别包括被嵌入第二材料中的第一材料。

13.根据权利要求10所述的方法，其中所述非均匀磨损轮廓包括被置于另一材料(3021，3025)上的材料层(3018，3022)。

14.根据权利要求10所述的方法，其中所述非均匀磨损轮廓包括根据两种不同工艺处理的材料，使得所述材料表现出两种不同的磨损特性。

15.根据权利要求10所述的方法，其中所述非均匀磨损轮廓包括根据两个不同定向(3030，3032)来定向的材料，使得所述材料表现出两种不同的磨损特性。

16.根据权利要求10所述的方法，其中所述非均匀磨损轮廓包括圆形的远端尖端(3000)。

17.根据权利要求10所述的方法，其中所述非均匀磨损轮廓包括具有两个不同壁厚(3044，3046)的非均匀壁厚。

18.根据权利要求10所述的方法，其中所述非均匀磨损轮廓包括高点和低点，其中所述磨损特性在所述高点处比在所述低点处更快。