[发明专利]对象内物品的衍射特征的生成有效
申请号: | 201380078724.1 | 申请日: | 2013-07-25 |
公开(公告)号: | CN105612416B | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
发明(设计)人: | 戴维·谢弗;约翰·P·奥康纳 | 申请(专利权)人: | 模拟技术公司 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20;G01V5/00 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 徐川;武晨燕 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 对象 物品 衍射 特征 生成 | ||
1.一种用于生成对象内物品的衍射特征的系统,该系统包括:
辐射源,该辐射源包括被配置成将所述物品暴露于辐射中的放射性影像同位素;
探测器阵列,被配置成对与所述物品相互作用的辐射进行探测;以及
衍射特征部件,被配置成基于与所述物品相互作用的所述辐射的角出射来生成所述物品的所述衍射特征,其中,针对所述探测器阵列的多个探测器单元中的每个探测器单元,所述衍射特征描述了该探测器单元所探测到的光子的数量。
2.根据权利要求1所述的系统,该系统包括:
衍射特征比较部件,被配置成将所述衍射特征与受关注物品的一组衍射特征进行比较,以确定所述物品是否为受关注物品。
3.根据权利要求1所述的系统,所述衍射特征指示所述物品的分子组成。
4.根据权利要求1所述的系统,该系统包括:
威胁探测部件,被配置成对指示所述对象的数据进行分析以识别出所述物品。
5.根据权利要求4所述的系统,所述数据包括对所述对象进行计算机断层扫描CT检查所生成的体数据。
6.根据权利要求5所述的系统,该系统包括:
CT装置,被配置成生成所述体数据,所述CT装置包括:
第二辐射源;
第二探测器阵列,被配置成对所述第二辐射源所发射的辐射进行探测;
旋转机架,被配置成使所述第二辐射源和所述第二探测器阵列相对于所述对象旋转。
7.根据权利要求4所述的系统,所述数据包括对所述对象进行线扫描检查所生成的二维数据。
8.根据权利要求7所述的系统,该系统包括:
线扫描装置,被配置成生成所述二维数据,所述线扫描装置包括:
第二辐射源;以及
第二探测器阵列,被配置成对所述第二辐射源所发射的辐射进行探测;
9.根据权利要求1所述的系统,其中,与所述物品相互作用的所述辐射是铅笔尖状的辐射线束。
10.根据权利要求1所述的系统,所述探测器阵列包括能量出射探测器阵列,该能量出射探测器阵列被配置成对与所述物品相互作用的所述辐射的能量进行测量以区分非相干散射和相干散射。
11.根据权利要求1所述的系统,所述放射性影像同位素包括铯-137和钴-57中的至少一种。
12.一种用于确定对象内物品的分子组成的方法,包括:
通过第一辐射来对对象执行第一检查,以生成指示所述对象的数据;
分析所述数据以识别出所述对象内的所述物品;
通过由放射性影像同位素的衰减所生成的第二辐射来对所述物品执行第二检查;
基于所述第二辐射与所述物品相互作用时的角出射来生成所述物品的衍射特征,其中,针对探测器阵列的多个探测器单元中的每个探测器单元,所述衍射特征描述了该探测器单元所探测到的光子的数量;以及
使用所述衍射特征来确定所述物品的分子组成。
13.根据权利要求12所述的方法,所述第一辐射包括具有一系列能级的辐射光子,并且所述第二辐射是单能的。
14.根据权利要求12所述的方法,所述执行第一检查包括:
从多个视角来检查所述对象。
15.根据权利要求12所述的方法,所述执行第二检查包括:
将指示所述第二辐射的非相干散射的数据与指示所述第二辐射的相干散射的数据进行筛分。
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