[发明专利]低温溅射铜锌锡硒太阳能电池在审

专利信息
申请号: 201410013785.6 申请日: 2014-01-13
公开(公告)号: CN104779318A 公开(公告)日: 2015-07-15
发明(设计)人: 马给民;保罗比蒂 申请(专利权)人: 东莞日阵薄膜光伏技术有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 523808 广东省东莞市松山湖科技*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 低温 溅射 铜锌锡硒 太阳能电池
【说明书】:

技术领域

发明涉及有关薄膜“光伏太阳能”电池芯片,具体涉及低温溅射工艺制造的太阳能电池。 

 背景技术

现有常见的薄膜太阳能电池,采用“碲化镉”,“非晶硅”或“铜铟镓硒( CIGS)”等薄膜材料,转换太阳能光伏电,采用钠钙玻璃,金属或其它柔性基板,使用高温蒸发,或先使用溅射工艺,镀上金属材料后,再采用“硒化”或“碲化”工艺,建立“P-N结”,然后在吸收层(absorber layer)的上层和下层铺上前后电极;除“非晶硅”,这些薄膜材料都是些十分昂贵的稀少材料,而“非晶硅”的转换效率太低,“碲化镉”有污染问题,“铜铟镓硒”制造工艺十分复杂,很难商品化,尤其对“铜铟镓硒( CIGS)”薄膜技术,常见使用的电镀沉淀工艺,或使用“金属”或“金属氧化物”经过纳米印刷工艺制造;这些工艺皆不利于批量生产,单“硒化(Selenization)”工艺,就可长达 8 小时,并需用大量有毒气体,比如使用“硒化氢”来逐步使“铜铟镓( CIS)”薄膜层“硒(Se)”化成““铜铟镓硒( CIGS)”薄膜层。 

要在低温下做好“铜锌锡硒(CZTS)”薄膜,并能保证它持有最优化的化学成分比例,成为标准的批量生产工艺,我们使用已匹配好化学成分的“铜锌锡硒”四元素固态靶材,用射频或负离子直流脉冲磁控溅射工艺,一次性镀膜;同时,为避免高温下“硒(Se)”的流失,一般行业采用的工艺是利用“硒化氢”气体,来补充“硒(Se)”的流失;但这种气体有毒,不适应批量生产;为了避免这个缺陷,我们使用低温溅射后,再使用高温真空退火炉,分别退火,使用固态“硒(Se)”来控制“硒(Se)”的流失,既避免有毒的“硒化氢”气体,同时,我们将低成本的退火炉单独出来,减轻高真空溅射炉的设备成本。 

发明内容

此项发明的主要目的在于建立一个适合批量生产的薄膜“铜锌锡硒(CZTS)”太阳能芯片的制造工艺;我们首先使用一块已匹配好“化学成分(stoichiometry)”的“铜,铟,镓,硒( CIGS)”等四元素合成固态靶材,在较低的基板温度下(250-300 摄氏度),用“射频或负离子脉冲直流电源溅射”镀膜,将“铜,锌,锡,硒”等元素,一次性电镀在玻璃基板上;然后再采用带有“硒(Se)”闭封气氛的退火炉,在 500-550 ° C高温下进行退火。 

 此这发明采用十分低成本的“铜,锌,锡,硒”材料,其制造工艺保证了薄膜层“化学成分(stoichiometry)”的优化;免除了传统工艺中长达八少时的“硒化工艺(selenization)” – 传统的“硒化”手段,使用带有毒的“硒化氢”气体,经数小时的化学反应,从已成型的金属薄膜层,进行“硒化”。 

我们采用不高于300 摄氏度的基板温度,能避免四元素溅射时,硒 (Se)的流失;跟着,我们将已具备良好“化学成分(stoichiometry)”的“铜锌锡硒(CZTS)”薄膜基板,调离真空溅射生产线(为避免占用“铜锌锡硒(CZTS)” 真空线,它是生产线上最复杂的瓶颈工艺环节),并采用单独的廉价退火炉进行高温退火;此退火炉用坩埚放置固态硒元素,在真空环境下进行高温退火,滋长大体积的“铜锌锡硒(CZTS)”晶体;由于前面采用四元素固态靶材,已 保证了“铜锌锡硒(CZTS)” 的化学成分,无需添加硒元素;退火炉内放置的固态“硒(Se)”,它并不是为了在“铜锌锡硒(CZTS)”薄膜中添加“硒(Se)”,而是为了保证退火炉内有富裕的“硒(Se)”气体气氛,扼制“铜锌锡硒(CZTS)” 薄膜中“硒(Se)”的流失。这工艺保证了大体积的“铜锌锡硒(CZTS)”晶体,保证了“铜锌锡硒(CZTS)”化学成分的优化及重复性,保证了退火期间“铜锌锡硒(CZTS)”薄膜不会有“硒(Se)”的流失,保证了硒在整个“铜锌锡硒(CZTS)”薄膜层间的均匀性,保证了高转换率的“铜锌锡硒(CZTS)”批量生产工艺。 

附图说明: 

图1为“铜锌锡硒(CZTS)” 模片横截面,“铜锌锡硒(CZTS)薄膜层横切面

1.      通常用的, 1.0 至 4.0 毫米厚,或 3.2 毫米标准厚度的钠钙玻璃基板;

2.      约 0.35 微米厚钼 (Mo)薄膜;

3.      约 0.5至1.5 微米厚,或 1.0 微米标准厚度的“铜锌锡硒(CZTS)”薄膜及类似大小的晶体;

4.      0.05 微米厚的硫化镉(CdS);

5.      约 0.1 微米厚的绝缘层“氧化锌(i-ZnO);

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