[发明专利]一种N型GaAs基激光二极管的制造方法在审

专利信息
申请号: 201410038388.4 申请日: 2014-01-26
公开(公告)号: CN103762501A 公开(公告)日: 2014-04-30
发明(设计)人: 周明;申云;苏学杰;段中明 申请(专利权)人: 南通明芯微电子有限公司
主分类号: H01S5/343 分类号: H01S5/343
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 刘洪勋
地址: 226634 江苏省南通*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 gaas 激光二极管 制造 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种激光二极管的制造方法。

背景技术

激光二极管(LD)是一种由半导体材料形成二极管,其基本结构包括衬底以及依次沉积在衬底上的P/N型包覆层、有源层和P/N型包覆层,以及N型和P型包覆层上的欧姆接触。衬底作为LD这座大厦的地基,具有重要的作用。蓝宝石是一种常用的LD衬底,但由于其与其上的异相外延层的晶格和热应力失配,发热后由于膨胀程度不同会崩裂,导致器件损坏。另外一类LD衬底包括GaAs,GaAs,InP等半导体材料。作为衬底的上述半导体材料中一般都会包括各种缺陷,例如位错、间隙或空位等,缺陷会引起晶体应变,应变会造成衬底上外延层的品质及性能降低,导致激光二极管的寿命缩短。多年来,随着半导体技术的发展,经过本领域技术人员的长期研究和实践,形成了较为完善的晶体生长工艺流程,减少了半导体衬底材料生长过程中形成的缺陷密度。但是,人们还希望得到缺陷密度更低的衬底,制得性能更佳、寿命更长的激光二极管。如何进一步减少或消除缺陷成为本领域急需解决的问题。

发明内容

为了克服现有技术中存在的缺陷,本发明提供了一种N型GaAs基激光二极管的制造方法,该方法可以明显的减小激光二极管衬底中的晶体缺陷密度,提高激光二极管的性能和寿命。

本发明的N型GaAs基激光二极管包括n-GaAs衬底,在衬底上依次沉积了n型包覆层、n型光导层和有源层,其中,

n型包覆层是n-AlaInbGa1-a-bN,其中0≤a,b,a+b≤1;

n型光导层为n-AlcIndGa1-c-dN,其中0≤c,d,c+d≤1;

有源层是超晶格结构的n-AleInfGa1-e-fN/n-AIgInhGa1-g-hN多量子阱层,其中0≤e,f,g,h,e+f,g+h≤1。

在有源层上还依次沉积了p型阻挡层、p型光导层和p型包覆层,其中p型阻挡层是p-AliInjGa1-i-jN,p型光导层是p-AlkIn1Ga1-k-1N,p型包覆层是p-AlmInnGa1-m-nN,其中0≤i,j,k,l,m,n,i+j,k+1,m+n≤1。

本发明的N型GaAs基激光二极管的制造方法包括如下步骤,首先形成GaAs衬底,其次在衬底上依次沉积了n型包覆层、n型光导层、有源层、p型阻挡层、p型光导层和p型包覆层。

其中形成GaAs衬底的方法包括如下步骤:

(1)在常温常压下,将GaAs晶片放入高温高压装置中,在高温高压装置中加入传压介质,该传压介质为NaCL和液氮;

(2)对GaAs晶片加热的同时加压,加热温度为860~890℃,加压压力为5.0~5.5GPa,保持10~15分钟。其中,加热速率为100℃/分钟,加压速率为0.1~0.2GPa/分钟。

(3)停止加热,使GaAs晶片冷却至常温;同时缓慢卸压,使GaAs晶片恢复至常压。卸压速度为0.3~0.5GPa/分钟。

(4)在高温高压装置中退火20~30分钟后,取出GaAs晶片。

附图说明

图1为本发明的N型GaAs基激光二极管的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。

图1示出了本发明的激光二极管的结构示意图。其包括n-GaAs衬底1,在衬底1上依次沉积了n型包覆层2、n型光导层3和有源层4。

n型包覆层2是n-AlaInbGa1-a-bN,光导层3为n-AlcIndGa1-c-dN,其中0≤a,b,c,d,a+b,c+d≤1。

包覆层2也可以是n-AlaInbGa1-a-bN超晶格。

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