[发明专利]一种基于MOS管的集成电路开关结构及方法在审
申请号: | 201410046899.0 | 申请日: | 2014-02-10 |
公开(公告)号: | CN103795388A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 高丰城;王德彬 | 申请(专利权)人: | 上海三一重机有限公司 |
主分类号: | H03K17/687 | 分类号: | H03K17/687 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 朱俊跃 |
地址: | 201306 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 mos 集成电路 开关 结构 方法 | ||
1.一种基于MOS管的集成电路开关结构,用于集成电路供电的开关控制,其特征在于,包括供电电源(1)、场效应管(2)、外部控制信号发生器(3)、内部控制信号发生器(4)和后续电路(5),所述供电电源(1)与所述场效应管(2)相连,所述场效应管(2)与所述后续电路(5)相连,所述外部控制信号发生器(3)和内部控制信号发生器(4)分别与所述场效应管(2)相连,所述场效应管(2)控制所述供电电源(1)与所述后续电路(5)之间的通断,所述外部控制信号发生器(3)通过发出外部控制信号控制所述场效应管(2)的通断,所述内部控制信号发生器(4)通过发出内部信号控制所述场效应管(2)的通断。
2.如权利要求1所述的基于MOS管的集成电路开关结构,其特征在于,所述内部控制信号发生器(4)与所述后续电路(5)相连,并根据检测的所述后续电路(5)的情况发出内部控制信号。
3.如权利要求2所述的基于MOS管的集成电路开关结构,其特征在于,还包括控制对象,所述内部控制信号发生器(4)与所述控制对象相连,并根据检测的所述场控制对象的情况发出内部控制信号。
4.如权利要求1所述的基于MOS管的集成电路开关结构,其特征在于,所述内部控制信号发生器(4)为硬件电路或控制软件。
5.如权利要求1所述的基于MOS管的集成电路开关结构,其特征在于,所述场效应管(2)为金属—氧化物—半导体场效应晶体管或金属—绝缘体—半导体场效应晶体管。
6.如权利要求1所述的基于MOS管的集成电路开关结构,其特征在于,所述场效应管(2)为N型场效应晶体管或P型场效应晶体管。
7.一种基于MOS管的集成电路开关方法,用于如权利要求1至6任一项所述的集成电路开关结构,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,所述外部控制信号发生器(3)和内部控制信号发生器(4)发出控制信号;
步骤2,所述场效应管(2)根据控制信号实现通断;
步骤3,通过所述场效应管(2)的通断实现所述供电电源(1)与所述后续电路(5)的通断。
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