[发明专利]一种LED灯寿命的测试方法

权利要求书

1.一种LED灯寿命的测试方法，其特征在于：

包括如下步骤：

A：对正常生产批次的LED产品，按标准进行周期检验计数抽样；

B：把产品放入高温测试箱中，进行如下测试：在一定的压力、温度、电压环境下通电测试一定的测试时间；然后升高压力和电压，进一步通电测试一定的测试时间；重复以上步骤测试数次，其中温度高于环境温度；

C：通过上述步骤B中若干次的测试后，对所测产品进行合格判定，能够正常启动，正常点亮判为合格；

D：把步骤C的经高温测试箱测试判为合格的产品，放入高低温交变湿热测试箱中，进行一定时间的测试，其中温度低于环境温度，完成后恢复常温后，通电进行合格判定，能正常启动，判定合格。

2.如权利要求1所述的一种LED灯寿命的测试方法：其特征在于：

步骤B为：把产品放入高温测试箱中，进行:如下三步骤的测试

1）低压环境，温度70-100℃，电压176V；

2）常压环境，温度70-100℃，电压220V到230V；

3）高压环境，温度70-100℃，电压264V。

3.如权利要求2所述的一种LED灯寿命的测试方法，其特征在于：低压环境下测试时间为为300小时，常压环境下测试时间为400小时，高压环境下测试时间为300小时。

4.如权利要求1所述的一种LED灯寿命的测试方法，其特征在于：步骤D中的在高低温交变湿热测试箱中的测试温度为-15℃，测试时间为48小时，完成后恢复常温后，进行合格判定，176V电压下能正常启动，判定合格。