[发明专利]一种LED灯寿命的测试方法

说明书

技术领域

本发明属于一种LED灯的寿命的测试方法。

背景技术

LED灯是使用LED进行照明的灯具，由于其诸多的优点，目前得到广泛的使用。

LED灯出厂时，需要进行检测，以确定该批次产品的寿命是否达到标准。

发明内容

本发明提供一种LED灯寿命的测试方法，其目的是提供一种可以测定一个批次的LED灯的寿命的数据的测试方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种LED灯寿命的测试方法，其特征在于：

包括如下步骤：

A：对正常生产批次的LED产品，按标准进行周期检验计数抽样；

B：把产品放入高温测试箱中，进行如下测试：在一定的压力、温度、电压环境下通电测试一定的测试时间；然后升高压力和电压，进一步通电测试一定的测试时间；重复以上步骤测试数次，其中温度高于环境温度；

C：通过上述步骤B中若干次的测试后，对所测产品进行合格判定，能够正常启动，正常点亮判为合格；

D：把步骤C的经高温测试箱测试判为合格的产品，放入高低温交变湿热测试箱中，进行一定时间的测试，其中温度低于环境温度，完成后恢复常温后，通电进行合格判定，能正常启动，判定合格。

进一步地，步骤B为：把产品放入高温测试箱中，进行:如下三步骤的测试

1）低压环境，温度70-100℃，电压176V；

2）常压环境，温度70-100℃，电压220V到230V；

3）高压环境，温度70-100℃，电压264V。

进一步地，低压环境下测试时间为为300小时，常压环境下测试时间为400小时，高压环境下测试时间为300小时。

进一步地，步骤D中的在高低温交变湿热测试箱中的测试温度为-15℃，测试时间为48小时，完成后恢复常温后，进行合格判定，176V电压下能正常启动，判定合格。

本发明的有益之处在于：

本发明由于采用了依次进行高温环境下三阶段的压力测试，低温环境下的测试，可以使被测LED灯在极端环境下得到完整的测试，从而得到批次产品的合格率，从中可以推出批次产品的寿命。

具体实施方式

一种LED灯寿命的测试方法，其特征在于：

包括如下步骤

A：对正常生产批次的LED产品，按标准进行周期检验计数抽样；

B：把产品放入高温测试箱中，进行:如下三步骤的测试

1）低压环境，温度85℃，电压176V，测试时间300小时；

2）常压环境，温度85℃，电压220V到230V，测试时间400小时；

3）高压环境，温度85℃，电压264V，测试时间300小时；

C：通过上述步骤B中1000小时高温环境下三段电压的测试工作后，对所测产品进行合格判定，能够正常启动，正常点亮判为合格；

D：把步骤C的经高温测试箱测试判为合格的产品，放入高低温交变湿热测试箱中，进行温度-15℃，测试时间为48小时的低温测试，完成后恢复常温后，进行合格判定，176V电压下能正常启动，判定合格。

通过本方法测试后，可判断出所测批次LED产品的正常寿命大于35000小时。