[发明专利]一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法无效
| 申请号： | 201410062797.8 | 申请日： | 2014-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN103822810A | 公开（公告）日： | 2014-05-28 |
| 发明（设计）人： | 赵如龙;李义长;王洪利;李荣华;樊毅 | 申请（专利权）人： | 攀钢集团成都钢钒有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 谭昌驰;邢伟 |
| 地址： | 610303 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 光电 直读 光谱分析 试样 制备 方法 | ||
1.一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述制备方法包括以下步骤：
从待测样品上切取预定长度的试样坯料；
沿试样坯料的长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将所述试样坯料压扁，以得到能够将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样。
2.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述待测样品为直径小于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的圆钢。
3.根据权利要求2所述的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述制备方法具体包括以下步骤：
从待测圆钢上截取长度大于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的试样坯料，沿所述试样坯料的直径方向将试样坯料压扁，得到长边和短边均大于所述火花台激发口的直径的矩形试样。
4.根据权利要求3所述的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径为10mm，所述待测圆钢的直径不大于7mm。
5.根据权利要求2所述的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述制备方法具体包括以下步骤：
从待测圆钢上截取预定长度的试样坯料，沿所述试样坯料的长度方向将试样坯料压扁，得到直径大于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的试样。
6.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其特征在于，所述制备方法还包括将所述压扁得到的试样镶嵌在镶嵌料上，并进行研磨后取出的步骤。
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