[发明专利]一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法

说明书

技术领域

本发明涉及钢铁材料分析领域领域，更具体地讲，涉及一种制备光电直读光谱分析仪用试样的方法。

背景技术

光电直读光谱分析仪用于定量分析材料成分是否满足生产要求，是钢铁行业生产过程中重要的质量控制手段。直读光谱分析过程的首要环节就是试样制备，目前试样制备过程为先截取，然后在对所取样品进行打磨得到光电直读光谱分析仪试样。

但是，若样品的原始尺寸或直径小于火花台激发口（又称激发孔）的直径d，则经现有处理方法得到的试样由于不能将光电直读光谱分析仪火花台的激发口完全覆盖，会导致激发室漏气，难以实现光电直读光谱分析。而市场广泛使用的圆盘条及棒材直径大多数都小于d，部分圆盘条经下游用户拉拔加工后直径更小，因而当需要对直径小于d的圆盘条及圆盘条拉拔产品进行成分分析时，试样制备就成为了一个难以解决的问题。因此设计一种适合直径小于d的圆盘条及深加工产品适用于光电直读光谱分析的试样制备方法，对于产品质量的保证具有重要意义。

发明内容

针对现有技术中存在的不足，本发明的目的之一在于解决上述现有技术中存在的一个或多个问题。

本发明的目的之一在于提供一种适合直径小于光电直读光谱分析仪的火花台激发口直径的圆盘条及深加工产品制备适用于光电直读光谱分析的试样的方法。

为了实现上述目的，本发明提供了一种光电直读光谱分析仪用试样的制备方法。所述制备方法包括以下步骤：从待测样品上切取预定长度的试样坯料；沿试样坯料的长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将所述试样坯料压扁，以得到能够将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样。

根据本发明光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的一个实施例，所述待测样品为直径小于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的圆钢。

根据本发明光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的一个实施例，所述制备方法具体包括以下步骤：从待测圆钢上截取长度大于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的试样坯料，沿所述试样坯料的直径方向将试样坯料压扁，得到长边和短边均大于所述火花台激发口的直径的矩形试样。

根据本发明光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的一个实施例，所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径为10mm，所述待测圆钢的直径不大于7mm。

根据本发明光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的一个实施例，所述制备方法具体包括以下步骤：从待测圆钢上截取预定长度的试样坯料，沿所述试样坯料的长度方向将试样坯料压扁得到直径大于所述光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径的试样。

根据本发明光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的一个实施例，所述制备方法还包括将所述压扁得到的试样镶嵌在镶嵌料上，并进行研磨后取出的步骤。

与现有技术相比，本发明的有益效果包括：为原始尺寸或直径小于光电直读光谱分析仪火花台的激发口直径d的圆盘条及深加工产品提供了一种制备光电直读光谱分析仪用试样的方法，对产品质量的保证具有重要意义。

附图说明

通过下面结合附图进行的描述，本发明的上述和其他目的和特点将会变得更加清楚，其中：

图1示出了本发明示例性实施例的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的试样坯料示意图。

图2为将图1所示试样坯料压扁后得到的试样的示意图。

图3为将图2中的试样镶嵌在镶嵌料上后得到的镶嵌试样的示意图。

图4为将图3中的镶嵌试样进行研磨后的示意图。

图5为将图4中的试样从镶嵌料上取出后的示意图。

附图标记说明：

1-试样坯料、2-试样以及3-镶嵌料。

具体实施方式

在下文中，将结合附图和示例性实施例详细地描述根据本发明的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法。

图1是本发明示例性实施例的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法的试样坯料示意图。图2是将图1所示试样坯料压扁后得到的试样示意图。图3是将图2中的试样镶嵌在镶嵌料上后得到的镶嵌试样的示意图。图4是将图3中的镶嵌试样进行研磨后的示意图。图5是将图4中的试样从镶嵌料上取出后的示意图。

在一个示例性实施例中，光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径d为10mm，待测样品的直径小于于光电直读光谱分析仪的火花台激发口的直径d，例如待测样品的直径为3～4mm，根据本发明示例性实施例的光电直读光谱分析仪用试样的制备方法，其主要制备过程如图1至图5所示，包括以下步骤：