[发明专利]光源装置及投影机有效
申请号: | 201410063174.2 | 申请日: | 2014-02-25 |
公开(公告)号: | CN104039060B | 公开(公告)日: | 2017-01-11 |
发明(设计)人: | 柳濑繁广 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | H05B37/03 | 分类号: | H05B37/03;H05B37/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所11247 | 代理人: | 陈海红,段承恩 |
地址: | 暂无信息 | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光源 装置 投影机 | ||
1.一种光源装置,其特征在于:
分别具备:
多个发光元件,其串联地连接;和
开路故障检测部、故障检测维持部和短路部,其对于所述多个发光元件之中的至少一个发光元件并联地连接,
所述开路故障检测部对并联地连接的发光元件的开路故障进行检测,
所述故障检测维持部在所述开路故障检测部检测到开路故障的情况下转变为该开路故障时的电路状态,并维持转变后的该电路状态,
所述短路部在所述故障检测维持部维持所述开路故障时的电路状态的情况下使检测到所述开路故障的发光元件的两端短路。
2.按照权利要求1所述的光源装置,其特征在于:
所述短路部具备FET,该FET其漏极连接于所述发光元件的一端且源极连接于所述发光元件的另一端,
所述短路部通过使所述FET的漏极和源极成为导通状态而使所述发光元件的两端短路。
3.按照权利要求2所述的光源装置,其特征在于:
所述故障检测维持部具备在所述开路故障检测部检测到开路故障的情况下熔断的熔丝,
所述故障检测维持部在所述熔丝熔断的情况下维持所述FET的漏极和源极的导通状态。
4.按照权利要求3所述的光源装置,其特征在于:
所述短路部对所述FET的栅极电位的变化进行抑制,直到所述熔丝熔断为止。
5.按照权利要求3所述的光源装置,其特征在于:
所述熔丝的一端连接于与具备所述熔丝的故障检测维持部并联地连接的发光元件的下一级以后的发光元件的阴极或前级以前的发光元件的阳极。
6.按照权利要求2所述的光源装置,其特征在于:
所述故障检测维持部具备电容器和多个晶体管;和
所述故障检测维持部在所述开路故障检测部检测到开路故障的情况下通过在所述电容器蓄积电荷并使所述多个晶体管的导通状态固定而维持所述FET的漏极和源极的导通状态。
7.按照权利要求1~6中任一项所述的光源装置,其特征在于:
所述开路故障检测部具备齐纳二极管,该齐纳二极管具有比在所述发光元件正常工作时施加于两端的电压高的击穿电压,
所述故障检测维持部在向所述齐纳二极管施加所述击穿电压以上的电压的情况下转变为所述开路故障时的电路状态,并维持转变后的该电路状态。
8.一种投影机,其特征在于:
分别具备:
多个发光元件,其串联地连接;
调制部,其对从所述发光元件出射的光进行调制;和
开路故障检测部、故障检测维持部和短路部,其对于所述多个发光元件之中的至少一个发光元件并联地连接,
所述开路故障检测部对并联地连接的发光元件的开路故障进行检测,
所述故障检测维持部在所述开路故障检测部检测到开路故障的情况下转变为该开路故障时的电路状态,并维持转变后的该电路状态,
所述短路部在所述故障检测维持部维持所述开路故障时的电路状态的情况下使检测到所述开路故障的发光元件的两端短路。
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