[发明专利]光源装置及投影机

说明书

技术领域

本发明涉及光源装置及投影机。

背景技术

在通过固体光源进行发光的光源中，多为在电源输出串联地连接多个发光元件并以电流控制进行驱动的情况。在该连接状态下，若一个发光元件在端子间开路的状态下发生故障，则串联地连接的正常的发光元件全部无法驱动。作为其对策，提出将以比发光元件各个的驱动时的端子间电压高的电压进行工作的齐纳二极管与发光元件并联地进行连接（例如，参照专利文献1及专利文献2）。该情况下，若发光元件在开路模式下发生故障，则齐纳二极管成为导通状态而使电流流过，并通过向其他的串联发光元件供给电流而对固体光源进行驱动。

专利文献1日本特开2011—222124号公报

专利文献1日本特开2009—59835号公报

在此，在使用齐纳二极管的情况下，因为齐纳二极管发热，所以必需散热。也可考虑代替齐纳二极管，将以比发光元件各个的驱动时的端子间电压高的电压开始工作的闸流晶体管或三端双向可控硅开关元件等的自导通元件与发光元件并联地进行连接。在自导通元件的情况下，虽然如果与齐纳二极管相比较则发热少，但是伴随着在工作时急剧的端子电压的下降，从驱动电源侧相对于发光元件流动大的冲流。并且若一旦驱动停止，则保护短路元件返回到截止，在再次驱动时，再次成为导通状态而流动冲流。该冲流的重复招致其他的正常的发光元件的老化。尤其是，例如在用于调光而进行PWM驱动的情况下，按每PWM驱动脉冲流动冲流，存在发光元件的老化显著的问题。

发明内容

于是本发明的一个方式鉴于所述问题而作出，目的在于提供即使在串联地连接的多个发光元件之中的任意的发光元件发生开路故障的情况下，也可以维持其他的发光元件的发光并减轻发光元件的老化的光源装置及投影机。

（1）本发明的一个方式为光源装置，分别具备：多个发光元件，其串联地连接；和开路故障检测部、故障检测维持部和短路部，其对于所述多个发光元件之中的至少一个发光元件并联地连接，所述开路故障检测部对并联地连接的发光元件的开路故障进行检测，所述故障检测维持部在所述开路故障检测部检测到开路故障的情况下转变为该开路故障时的电路状态，并维持转变后的该电路状态，所述短路部在所述故障检测维持部维持所述开路故障时的电路状态的情况下使检测到所述开路故障的发光元件的两端短路。

由此，即使在串联地连接的多个发光元件之中的任意的发光元件发生开路故障的情况下，也能够使开路故障的发光元件短路原封不动，且能够维持其他的发光元件的发光。而且，因为通过维持开路故障时的电路状态来使开路故障的发光元件的两端短路原封不动，所以在再次开始发光元件的驱动的情况下从使发光元件的两端短路的状态开始驱动。因此，由于冲流不会重复流过发光元件，所以能够减轻由于冲流产生的发光元件的老化。

（2）并且，本发明的一个方式作为所述的光源装置，所述短路部具备FET，其FET其漏极连接于所述发光元件的一端且源极连接于所述发光元件的另一端，所述短路部通过使所述FET的漏极和源极成为导通状态而使所述发光元件的两端短路。

由此，FET因为能够以基本为0欧姆而使开路故障的发光元件的两端短路所以在FET的损耗基本为0W，能够降低发热。其结果，在维持开路故障时的电路状态的情况下，存在光源装置不用散热结构的优点。

（3）并且，本发明的一个方式作为所述的光源装置，所述故障检测维持部具备在所述开路故障检测部检测到开路故障的情况下熔断的熔丝，所述故障检测维持部在所述熔丝熔断的情况下维持所述FET的漏极和源极的导通状态。

由此，通过在熔丝熔断的情况下维持FET的漏极和源极的导通状态，而能够使发光元件的两端短路原封不动。由此，在再次开始发光元件的驱动的情况下从使发光元件的两端短路的状态开始驱动。因此，因为冲流不会反复流过发光元件，所以能够减轻由于冲流产生的发光元件的老化。

（4）并且，本发明的一个方式作为所述的光源装置，所述短路部对所述FET的栅极电位的变化进行抑制，直到所述熔丝熔断为止。

由此，不依赖于熔丝的两端的电压地，FET的栅极电压能够成为固定且高的状态，且FET能够成为截止的状态原封不动。因此，因为FET为截止的状态原封不动，直到熔丝完全地熔断为止，所以能够向熔丝供给一定的电流直到熔丝完全地熔断为止。其结果，能够防止在熔丝的熔断中花费的时间变长。