[发明专利]薄膜晶体管阵列基板及其制造方法有效
申请号: | 201410063283.4 | 申请日: | 2014-02-24 |
公开(公告)号: | CN103824810B | 公开(公告)日: | 2017-05-24 |
发明(设计)人: | 苏长义;郑扬霖 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;G03F7/42;G02F1/1339 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司44217 | 代理人: | 蔡晓红 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 阵列 及其 制造 方法 | ||
1.一种薄膜晶体管阵列基板的制造方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
S1,在基板主体(210)上形成薄膜晶体管,使用绝缘材料形成覆盖所述基板主体(210)与所述薄膜晶体管的保护层(220),使用有机光阻材料在所述保护层(220)表面形成平坦化层(230);
S2,将所述平坦化层(230)划分为显示区(231)与移除区(232),对所述显示区(231)的选定区域进行完全曝光,对整个所述移除区(232)进行不完全曝光;
S3,进行光阻显影,在所述显示区(231)的所述选定区域形成连通孔(250),同时使所述移除区(232)被部分地移除而在所述保护层(220)上形成厚度比所述平坦化层(230)薄的遮蔽层(232a);
S4,在所述保护层(220)上形成和所述连通孔(250)相通,用于引出所述薄膜晶体管的配线的引线孔(260);
S5,形成所述引线孔(260)后,将所述遮蔽层(232a)移除,使所述保护层(220)部分地暴露出来形成粘合区(220a),然后在所述粘合区(220a)上涂上框胶;
其中,所述步骤S1中,在所述基板主体(210)上形成薄膜晶体管的操作包括以下子步骤:
S11,在所述基板主体(210)的表面上形成薄膜晶体管的栅极(211);
S12,形成将所述基板主体(210)与所述栅极(211)一同覆盖的绝缘层(212);
S13,采用半导体材料在所述绝缘层(212)的表面上形成用作所述薄膜晶体管的通道区的半导体层(213);
S14,在所述半导体层(213)上形成所述薄膜晶体管的漏极(214)和源极(215)。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S2包括以下子步骤:
S21,提供光罩(24),所述光罩(24)为灰阶光罩或半透膜光罩,包括不透光的遮光区(240)与允许光线部分地透过的半透光区(242),且所述遮光区(240)开设有位置对准所述显示区(231)的所述选定区域的开孔(241);使用所述遮光区(240)遮住所述显示区(231),使用所述半透光区(242)遮住所述移除区(232);
S22,对所述遮光区(240)与所述半透光区(242)的表面同时进行曝光,使所述显示区(231)的所述选定区域在穿过所述开孔(241)的曝光光线的照射下受到完全曝光,而整个所述移除区(232)在部分地透过所述半透光区(242)的曝光光线照射下受到不完全曝光。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤S4中,形成所述引线孔(260)的方法为干式蚀刻。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于:所述步骤S4中,采用的蚀刻反应气体为氯气或六氟化硫。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤S5中,将所述遮蔽层(232a)移除的方法为灰化处理。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤S3中形成的所述连通孔(250)和所述步骤S4中形成的所述引线孔(260)均对准所述漏极(214)或源极(215),使所述漏极(214)或源极(215)通过所述引线孔(260)部分地暴露出来。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述子步骤S12中,形成所述绝缘层(212)的方法为化学气相沉积法。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤S1中,形成所述保护层(220)的方法为化学气相沉积法。
9.一种基于权利要求1所述的方法制造的薄膜晶体管阵列基板,包括基板主体(210)、形成在所述基板主体(210)表面上的薄膜晶体管、使用绝缘材料形成的覆盖所述基板主体(210)与所述薄膜晶体管的保护层(220)、以及使用有机光阻材料形成在所述保护层(220)的一部分表面上的平坦化层(230);其特征在于:
所述平坦化层(230)划分为显示区(231)与移除区(232),对所述显示区(231)的选定区域进行完全曝光,对整个所述移除区(232)进行不完全曝光;
在所述显示区(231)的所述选定区域形成连通孔(250),所述保护层(220)上形成和所述连通孔(250)相通、用于引出所述薄膜晶体管的配线的引线孔(260),与所述移除区(232)相对应位置的所述保护层(220)部分地暴露出来形成粘合区(220a),在所述粘合区(220a)涂设有框胶,形成与所述平坦化层(230)相邻的框胶层(280)。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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