[发明专利]X射线CT扫描和双源CT系统有效

专利信息
申请号: 201410071926.X 申请日: 2014-02-28
公开(公告)号: CN104013418B 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: T.阿尔曼丁格 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 ct 扫描 系统
【权利要求书】:

1.一种检查对象(7)的X射线CT扫描的方法,其利用角度错移地布置地固定在CT系统(1)的共同的机架上的两个辐射器-探测器系统(A,2,3;B,4,5),其中,每个辐射器(2,4)都具有焦点(2.2,4.2)并且每个探测器都构建为多排探测器(3,5),该多排探测器具有二维地起作用的散射格栅(G),并且在扫描过程期间在每个辐射器-探测器系统(A,2,3;B,4,5)的每个焦点(2.2,4.2)与对置的探测器(3,5)之间分别产生按照二维发散并且通过辐射器侧的光圈(2.1,4.1)限制的射束(SA,SB),其特征在于,分别通过所述光圈(2.1,4.1)限制这两个射束,使得这些射束至少在所述检查对象(7)中没有相互交点并且辐射器侧的光圈(2.1,4.1)安装在X射线管的区域中。

2.根据权利要求1所述的X射线CT扫描的方法,其特征在于,两个所述焦点(2.2,4.2)在共同的环周线(UM)上移动。

3.根据权利要求1所述的X射线CT扫描的方法,其特征在于,两个所述焦点(2.2,4.2)在两个分离的环周线(U’,U”)上移动。

4.根据权利要求3所述的X射线CT扫描的方法,其特征在于,所述焦点(2.2,4.2)的两个分离的环周线(U’,U”)形成圆面,其分别在z方向上来看与所述探测器(3,5)的中线M错移地延伸。

5.根据权利要求1到4中任一项所述的X射线CT扫描的方法,其特征在于,在z方向上限制两个所述射束(SA,SB),使得其分别仅照射其多排探测器(3,5)的一部分。

6.根据权利要求5所述的X射线CT扫描的方法,其特征在于,分别仅将所述探测器(3,5)的被照射部分用于确定辐射衰减。

7.根据权利要求4所述的X射线CT扫描的方法,其特征在于,所述焦点(2.2,4.2)关于其z坐标设置在相关的辐射器-探测器系统(A,2,3;B,4,5)的探测器(3,5)的被照射部分内。

8.根据权利要求1所述的X射线CT扫描的方法,其特征在于,两个所述射束(SA,SB)关于环周方向完全照射其探测器(3,5)。

9.根据权利要求3到4中任一项所述的X射线CT扫描的方法,其特征在于,所述探测器(3,5)中的至少一个通过关于z轴线倾斜而与其在z方向上错移的焦点(2.2,4.2)对准。

10.一种用于扫描检查对象(7)的双源CT系统(1),具有90度角度错移地布置地固定在机架上的两个辐射器-探测器系统(A,2,3;B,4,5),这些辐射器-探测器系统分别具有在运行中形成焦点(2.2,4.2)的至少一个X射线管(2,4),该焦点在环周线(UM,U’;U”)上围绕在z方向上延伸的系统轴线(9)旋转,并且这些辐射器-探测器系统还分别具有同样围绕所述系统轴线(9)旋转的、具有二维地起作用的散射格栅(G)的多排探测器(3,5),其探测器排在环周方向上延伸,其中,从各个焦点(2.2,4.2)出发,通过光圈(2.1,4.1)限制的射束对准于分别相对应的多排探测器(3,5),其特征在于,设有用于控制(10)所述光圈(2.1,4.1)的机构,其限制和对准两个射束(SA,SB),使得这些射束(SA,SB)至少在所述检查对象(7)中没有相互交点地延伸并且辐射器侧的光圈(2.1,4.1)安装在X射线管的区域中。

11.根据权利要求10所述的双源CT系统(1),其特征在于,对于至少一个多排探测器(3,5)设有能够在z方向上不同地定位的焦点(2.2,4.2)。

12.根据权利要求10或11所述的双源CT系统(1),其特征在于,对于至少一个多排探测器(3,5)设有至少两个带有能够在z方向上不同地定位的焦点(2.2,4.2)的辐射器(2,4)。

13.根据权利要求10或11所述的双源CT系统(1),其特征在于,对于至少一个多排探测器(3,5)设有带有能够在z方向上移位的焦点(2.2,4.2)的辐射器(2,4)。

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