[发明专利]X射线CT扫描和双源CT系统有效

专利信息
申请号: 201410071926.X 申请日: 2014-02-28
公开(公告)号: CN104013418B 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: T.阿尔曼丁格 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 ct 扫描 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及检查对象的X射线CT扫描,其利用在CT系统共同的机架上角度错移地布置的两个辐射器-探测器系统,其中,每个辐射器都具有焦点并且每个探测器都构建为多排探测器,该多排探测器具有二维地起作用的散射格栅,并且在扫描过程期间在每个辐射器-探测器系统的每个焦点与对置的探测器之间分别产生按照二维发散并且通过辐射器侧的光圈限制的射束。

此外,本发明还涉及一种用于扫描检查对象的双源CT系统,具有两个角度错移地布置在机架上的辐射器-探测器系统,这些辐射器-探测器系统分别具有在运行中形成焦点的至少一个X射线管,该焦点在环周线上围绕在z方向上延伸的系统轴线旋转,并且这些辐射器-探测器系统还分别具有同样围绕所述系统轴线旋转的、具有二维地起作用的散射格栅的多排探测器,其探测器排在环周方向上延伸,其中,从相应的焦点出发,通过光圈限制的射束对准分别相对应的多排探测器。

背景技术

开头描述的方法和用于此的双源CT系统都是一般地已知的。在这种扫描方法和这种带有按90°布置的两个管的CT系统中,双管模式中的运行必然引起在对象上形成横向散射,其出于几何结构原因而也不能通过探测器上方的二维地起作用的散射格栅来遮蔽并且因此在探测器处被测量为附加信号。如果该横向散射的量未被校正,则其必然引起图像中的伪影,这些伪影尤其在双谱双源扫描中、即在双能运行中持续干扰评估和带来承受伪影的结果。

出于该原因开发出过算法,其尝试估计和校正这些散射量。还存在技术上的硬件解决方案,例如散射监控器、在边缘排中用于测量散射量的缩小的准直部,以便能够测量和校正散射量。尤其,基于边缘排校正的拍摄模式在至今存在的设备中用于以高质量提供结果。

对于具有二维地起作用的散射格栅,该类型的数据采集和校正却是不可能的。

发明内容

因此,本发明要解决的技术问题是找出一种方法和一种利用两个辐射器-探测器系统的X射线CT扫描和一种双源CT系统,其在扫描时较少地倾向于对于在由此形成的CT示图中形成伪影。

通过独立权利要求的特征来解决所述技术问题。本发明有利的扩展是从属权利要求的内容。

发明人已知,数据采集的特殊形式和所扫描的射束的引导能够实现在很大程度上抑制散射量。其关键是关于定界的排不对称地运行两个探测器,其与二维的散射格栅结合地引起强烈地抑制在分别另一探测器中的散射入射。这通过所扫描的射线的射线引导来这样起作用,使得两个辐射器-探测器系统的射束不再具有交点。

基本上可能的是,构造这种的CT系统,在该CT系统中探测器系统和/或辐射器的焦点在z方向上彼此错移,使得尽管利用共同的机架,仍避免在辐射器-探测器系统的两个射束之间的相交。由此,避免了在一个辐射器-探测器系统的射线路径中由于分别另一辐射器-探测器系统的射线而形成散射。其它在两个系统中基本上总是形成的散射于是可以(纯粹在几何上来看并且在第一近似中)通过二维地起作用的散射格栅来抑制。CT系统的这种实施形式的优点在于,可以利用所使用的多排探测器的整个面积。然而,该优点的代价是,不能同时再通过两个仅角度错移的射束来扫描区域。

在根据本发明的另一变型方案中,基于双源CT系统的如今常见构造,其具有两个布置在共同机架上的多排探测器以及分别居中地与多排探测器对置的焦点。通过借助安装在X射线管区域中的光圈将从焦点朝着各个探测器发出的射束单侧剪切至该射束在z方向上张角的一半可以实现的是,两个射束不再相交。相应地,每个探测器在z方向来看也仅还被部分照射,从而探测器在环周方向上此外虽然被完全利用,但是在z方向上仅还使用和读出在z方向上较窄的部分。

在一个进一步的变型方案中可以为了更好分离射束而将射束的焦点在z方向上彼此移开。由此得到的是,探测器的可用面积再次变宽。替换地,也可以将探测器在z方向上相对于彼此移位或者将两个措施彼此组合。

因为通过焦点和探测器在z方向上的相对移位而改变每个探测器元件的各个射线的入射方向并且该入射方向可能并不再匹配于现有的散射格栅,所以还可以同时随着改变射束的辐射方向而将探测器倾斜,使得尽管改变了辐射方向而在探测器与焦点之间的最优对准总是保持不变。

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