[发明专利]固体摄像装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201410079918.X 申请日: 2014-03-06
公开(公告)号: CN104051485A 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: 神例信贵 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 庞乃媛;黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 固体 摄像 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种固体摄像装置,具备:

硅基板部,包括设置在与主面平行的平面内的多个摄像部;

彩色滤光层,在与上述主面垂直的方向上与上述硅基板部分离,具有比上述硅基板部的折射率低的折射率;

光透射性的第1光学层,设置在上述硅基板部与上述彩色滤光层之间,具有比上述彩色滤光层的上述折射率低、且比上述硅基板部的上述折射率低的第1折射率;

光透射性且多晶的第2光学层,设置在上述第1光学层与上述彩色滤光层之间,具有比上述第1折射率高且比上述硅基板部的上述折射率低的第2折射率;以及

光透射性的第3光学层,设置在上述第2光学层与上述彩色滤光层之间,具有比上述彩色滤光层的上述折射率低、且比上述第2折射率低的第3折射率。

2.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,

上述第1光学层及上述第3光学层含有氧化硅,

上述第2光学层含有氧化钛。

3.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,

上述第1光学层的厚度比380nm薄,

上述第2光学层的厚度比380nm薄,

上述第3光学层的厚度比380nm薄。

4.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,

上述第1光学层的厚度为10纳米以上且小于25纳米,

上述第2光学层的厚度为25纳米以上且小于50纳米,

上述第3光学层的厚度为10纳米以上且200纳米以下。

5.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,

530纳米的波长下的上述第2折射率为2.55以上且2.66以下。

6.根据权利要求5所述的固体摄像装置,其中,

530纳米的波长下的上述第1折射率为1.45以上且小于1.55,

530纳米的波长下的上述第3折射率为1.45以上且小于1.55。

7.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,

530纳米的波长下的上述第2折射率为2.61以上且2.67以下。

8.根据权利要求7所述的固体摄像装置,其中,

530纳米的波长下的上述第1折射率为1.45以上且小于1.55,

530纳米的波长下的上述第3折射率为1.45以上且小于1.55。

9.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,

上述第2光学层含有多晶的氧化钛,

上述第1光学层及上述第2光学层含有氧化硅。

10.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,

上述第2光学层含有锐钛矿结构的氧化钛。

11.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,

上述第2光学层含有金红石结构的氧化钛。

12.一种固体摄像装置的制造方法,其中,

在包括设置在与主面平行的平面内的多个摄像部的硅基板部的上方,形成包括光透射性的第1光学层、光透射性且多晶的第2光学层、及光透射性的第3光学层的层叠体,上述第1光学层具有比上述硅基板部的折射率低的第1折射率,上述第2光学层设置在上述第1光学层的上方,具有比上述第1折射率高且比上述硅基板部的上述折射率低的第2折射率,上述第3光学层设置在上述第2光学层的上方,具有比上述第2折射率低的第3折射率,

在上述层叠体的上方,形成具有比上述第1折射率高且比上述第3折射率高的折射率的彩色滤光层。

13.根据权利要求12所述的固体摄像装置的制造方法,其中,

上述第2光学层是氧化钛层,

在上述层叠体的形成中,

包括在上述第1光学层的上方形成非晶的氧化钛膜之后,通过热处理将上述非晶的氧化钛膜多晶化来形成上述第2光学层,并在上述第2光学层的上方形成上述第3光学层的过程;或者包括在上述非晶的氧化钛膜的上方一边加热一边形成上述第3光学层,将上述非晶的氧化钛膜多晶化,从而形成上述第2光学层的过程。

14.根据权利要求13所述的固体摄像装置的制造方法,其中,

上述热处理的温度为350℃以上且550℃以下。

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