[发明专利]固体摄像装置及其制造方法无效
申请号: | 201410079918.X | 申请日: | 2014-03-06 |
公开(公告)号: | CN104051485A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | 神例信贵 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 庞乃媛;黄剑锋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 固体 摄像 装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种固体摄像装置,具备:
硅基板部,包括设置在与主面平行的平面内的多个摄像部;
彩色滤光层,在与上述主面垂直的方向上与上述硅基板部分离,具有比上述硅基板部的折射率低的折射率;
光透射性的第1光学层,设置在上述硅基板部与上述彩色滤光层之间,具有比上述彩色滤光层的上述折射率低、且比上述硅基板部的上述折射率低的第1折射率;
光透射性且多晶的第2光学层,设置在上述第1光学层与上述彩色滤光层之间,具有比上述第1折射率高且比上述硅基板部的上述折射率低的第2折射率;以及
光透射性的第3光学层,设置在上述第2光学层与上述彩色滤光层之间,具有比上述彩色滤光层的上述折射率低、且比上述第2折射率低的第3折射率。
2.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,
上述第1光学层及上述第3光学层含有氧化硅,
上述第2光学层含有氧化钛。
3.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,
上述第1光学层的厚度比380nm薄,
上述第2光学层的厚度比380nm薄,
上述第3光学层的厚度比380nm薄。
4.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,
上述第1光学层的厚度为10纳米以上且小于25纳米,
上述第2光学层的厚度为25纳米以上且小于50纳米,
上述第3光学层的厚度为10纳米以上且200纳米以下。
5.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,
530纳米的波长下的上述第2折射率为2.55以上且2.66以下。
6.根据权利要求5所述的固体摄像装置,其中,
530纳米的波长下的上述第1折射率为1.45以上且小于1.55,
530纳米的波长下的上述第3折射率为1.45以上且小于1.55。
7.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,
530纳米的波长下的上述第2折射率为2.61以上且2.67以下。
8.根据权利要求7所述的固体摄像装置,其中,
530纳米的波长下的上述第1折射率为1.45以上且小于1.55,
530纳米的波长下的上述第3折射率为1.45以上且小于1.55。
9.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,
上述第2光学层含有多晶的氧化钛,
上述第1光学层及上述第2光学层含有氧化硅。
10.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,
上述第2光学层含有锐钛矿结构的氧化钛。
11.根据权利要求1所述的固体摄像装置,其中,
上述第2光学层含有金红石结构的氧化钛。
12.一种固体摄像装置的制造方法,其中,
在包括设置在与主面平行的平面内的多个摄像部的硅基板部的上方,形成包括光透射性的第1光学层、光透射性且多晶的第2光学层、及光透射性的第3光学层的层叠体,上述第1光学层具有比上述硅基板部的折射率低的第1折射率,上述第2光学层设置在上述第1光学层的上方,具有比上述第1折射率高且比上述硅基板部的上述折射率低的第2折射率,上述第3光学层设置在上述第2光学层的上方,具有比上述第2折射率低的第3折射率,
在上述层叠体的上方,形成具有比上述第1折射率高且比上述第3折射率高的折射率的彩色滤光层。
13.根据权利要求12所述的固体摄像装置的制造方法,其中,
上述第2光学层是氧化钛层,
在上述层叠体的形成中,
包括在上述第1光学层的上方形成非晶的氧化钛膜之后,通过热处理将上述非晶的氧化钛膜多晶化来形成上述第2光学层,并在上述第2光学层的上方形成上述第3光学层的过程;或者包括在上述非晶的氧化钛膜的上方一边加热一边形成上述第3光学层,将上述非晶的氧化钛膜多晶化,从而形成上述第2光学层的过程。
14.根据权利要求13所述的固体摄像装置的制造方法,其中,
上述热处理的温度为350℃以上且550℃以下。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝,未经株式会社东芝许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410079918.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:叶片脉络式雾化喷头
- 下一篇:开放式水坝和潮汐电站
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的