[发明专利]加工物件基础规格的检测方法有效

专利信息
申请号: 201410080865.3 申请日: 2014-03-07
公开(公告)号: CN104897070B 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 冯兆平 申请(专利权)人: 达观科技有限公司
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 曹玲柱
地址: 中国台湾台中市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 加工 物件 基础 规格 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种加工物件基础规格的检测方法,其特征在于,应用于呈板状的一物件,用以判断该物件是否符合一适于进行后续校正及加工的基础规格,该物件预先置放于一初始位置,该物件定义有至少二参考点,该检测方法包括使用一摄影器材,该摄影器材具有至少二视窗,该些视窗的投影范围内各涵盖有一该参考点,且该些视窗中各定义有一校正点,且该校正点不可相对该视窗移动,各该视窗中的该参考点与该校正点互为对应,其中各该参考点与其所对应的该校正点在一投影平面上的距离定义为各该参考点的一偏差距离,该检测方法包含下列步骤:

利用一数值模拟技术,模拟该物件移动至一校正位置的情形,其中该校正位置的定义,是指当该物件位于该校正位置时,该些参考点的各该偏差距离的平方和为最小;

该物件模拟移动至该校正位置的情形时,比较该些偏差距离与一门限值的大小;任一该偏差距离大于该门限值或二个以上的该些偏差距离大于该门限值,抑或是该些偏差距离的和大于该门限值时,判断该物件不符合该基础规格。

2.根据权利要求1所述的加工物件基础规格的检测方法,其中,若一该偏差距离大于该门限值,则判断该物件不符合该基础规格。

3.根据权利要求1所述的加工物件基础规格的检测方法,其中,若该些偏差距离的平方和大于该门限值,则判断该物件不符合该基础规格。

4.根据权利要求1所述的加工物件基础规格的检测方法,其中,若有超过一特定数量的该些参考点的该偏差距离大于该门限值,则判断该物件不符合该基础规格。

5.根据权利要求1所述的加工物件基础规格的检测方法,其中,该些视窗各定义有一坐标系,各该视窗的该校正点在该坐标系上具有一第一坐标值。

6.根据权利要求5所述的加工物件基础规格的检测方法,其中,该参考点在所对应视窗内的该坐标系上具有一第二坐标值;各该参考点的该偏差距离通过该第一坐标值与该第二坐标值而计算得到。

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