[发明专利]加工物件基础规格的检测方法

说明书

技术领域

本发明与加工方法有关；特别是指一种加工物件基础规格的检测方法。

背景技术

随着加工技术的发展，物件多是置于治具或机台上，再施以自动化流程以进行钻孔或零件安装等加工动作；对于像电路板一类通过酸洗、刻蚀等方法预先布设好电路线的物件，由于每个物件之间常见有尺寸或形状的差异，若未能妥善校正物件的位置，便贸然进行加工，很可能会造成电路线无法导通，或零件接点未对齐等状况，造成加工失败，浪费成本。

为避免此些情况，业界已有多种物件校正方法，用意在于确保每个物件都具有同等的校正标准，以保障加工后的成品的功能都如预期。这些校正方法多是利用一调整装置调整物件在治具或机台上的位置，但偶尔会出现尺寸或形状误差过大的物件，也就是不符合加工需求所要求的基础规格，像这样的物件无论如何校正，都无法进行有效加工，故应直接抛弃。只是，通常物件要实际经过校正后，才能发现是否不符合基础规格，使得生产线必须花费不必要的时间，尝试校正这些根本无法利用的物件，徒然增加时间成本。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种加工物件基础规格的检测方法，能快速判断物件是否符合适于加工的基础规格。

为了达成上述目的，本发明所提供的加工物件基础规格的检测方法应用于呈板状的一物件，用以判断该物件是否符合一适于进行后续校正及加工的基础规格，该物件预先置放于一初始位置，该物件定义有至少二参考点，该检测方法包括使用一摄影器材，该摄影器材具有至少二视窗，该些视窗的投影范围内各涵盖有一该参考点，且该些视窗中各定义有一校正点，各该视窗中的该参考点与该校正点互为对应，其中各该参考点与其所对应的该校正点在一投影平面上的距离定义为各该参考点的一偏差距离，该检测方法包含下列步骤：利用一数值模拟技术，模拟该物件移动至一校正位置的情形，其中该校正位置的定义，是指当该物件位于该校正位置时，该些参考点的各该偏差距离的平方和为最小；比较该些偏差距离与一门限值，借此判断该物件是否符合该基础规格。

本发明的效果在于，不必实际进行校正，便能快速判断物件是否符合适于加工的基础规格。

附图说明

图1为本发明加工物件基础规格的检测方法的应用环境示意图；

图2为图1的应用环境其中一个视窗的放大示意图，揭露物件位于初始位置；

图3为本发明加工物件基础规格的检测方法的流程图；

图4为图2同一视窗的另一放大示意图，揭露物件受模拟而位于校正位置。

【符号说明】

10物件；

12参考点；

20视窗；

22校正点；

24坐标系。

具体实施方式

为能更清楚地说明本发明，现举优选实施例并配合附图详细说明如下。本发明加工物件基础规格的检测方法适用于板状的物件，用以判断该物件是否符合一基础规格，此处所述的该基础规格，是指符合该基础规格的物件能够进行后续的校正及加工动作，且产出的加工成品具有预期的功效。该检测方法包括使用一摄影器材，合先叙明。

请参阅图1及图2，本发明一优选实施例的受校正物件为一物件10，该物件10上定义有四个参考点12，是由该物件10的各个端角的两边延伸交会而成；该摄影器材具有四个视窗20，该些视窗20的投影范围内各涵盖有一该参考点12，且该些视窗20都定义有一校正点22，且该校正点22不可相对于该视窗20移动，各该视窗20中的该参考点12与该校正点22互为对应。

该些视窗20各定义有一坐标系24，本实施例中各该视窗20所定义的该校正点22即为该坐标系24的原点，但该校正点22的定义方式并不以此为限，在其他实施例中，该校正点22也可以位于不同于原点的位置；由于该校正点22与该参考点12都位于该坐标系24上，故该校正点22具有一第一坐标值(X1，Y1)，该参考点12也具有一第二坐标值(X2，Y2)。各该参考点12与对应的一该校正点22在一投影平面上自然相隔有一距离，该距离定义为各该参考点12的一偏差距离；在本优选实施例中，各该参考点12的该偏差距离可通过该校正点22的该第一坐标值(X1，Y1)及该参考点12的该第二坐标值(X2，Y2)经几何数学计算得知。