[发明专利]超声波检查装置以及超声波检查方法有效
申请号: | 201410084662.1 | 申请日: | 2014-03-10 |
公开(公告)号: | CN104062358B | 公开(公告)日: | 2018-01-02 |
发明(设计)人: | 森冈友子;冈田直忠 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G01N29/12 | 分类号: | G01N29/12;G01B17/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 杨谦,房永峰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 超声波 检查 装置 以及 方法 | ||
1.一种超声波检查装置,用于求出相互重合的第一部件和第二部件的焊接部的截面尺寸,该超声波检查装置具备:
振动产生部,对第一部件照射激光,使超声波振动产生;
检测部,检测经由焊接部从上述第一部件传播至第二部件的超声波振动;以及
解析部,解析由上述检测部检测出的被传播的上述超声波振动;
上述解析部求出上述第二部件在厚度方向上的位移成为最大时由上述检测部检测出的超声波振动的频率及波长的至少某个,根据预先求出的、上述第二部件的上述第一部件侧的面的位置上的焊接部的截面尺寸与上述超声波振动的频率及波长的至少某个之间的相关关系,求出上述焊接部的截面尺寸,
将上述第二部件在厚度方向上的位移成为最大时由上述检测部检测出的超声波振动的频率设为F,将上述焊接部的截面尺寸设为W,将传播的上述超声波振动的速度设为V时,满足以下式子:
V/5W≤F≤V/W。
2.如权利要求1记载的超声波检查装置,
上述振动产生部具有射出高能量且被时间调制后的激光的第一激光光源。
3.如权利要求2记载的超声波检查装置,
上述第一激光光源是脉冲激光光源。
4.如权利要求1记载的超声波检查装置,
上述检测部检测由上述振动产生部产生的、从上述第一部件经由上述焊接部传播至上述第二部件的上述超声波振动。
5.如权利要求1记载的超声波检查装置,
上述检测部具有:
射出激光的第二激光光源;
头,将从上述第二激光光源射出的上述激光向上述第二部件的表面照射,基于上述激光和来自上述第二部件的表面的反射光产生干涉光;以及
变换部,根据上述干涉光相对于经过时间的强度变化,检测超声波振动。
6.如权利要求1记载的超声波检查装置,
上述解析部通过高速傅里叶变换进行上述超声波振动的频率解析。
7.如权利要求1或2记载的超声波检查装置,
上述解析部根据求出的上述焊接部的截面尺寸和预先求出的阈值,判定焊接强度的适当与否。
8.如权利要求7记载的超声波检查装置,
上述解析部在求出的上述焊接部的截面尺寸比上述阈值长的情况下,判定为上述焊接强度是适当的。
9.如权利要求1记载的超声波检查装置,
上述焊接部通过从塞焊、槽焊及点焊构成的组中选出的至少1种来形成。
10.一种超声波检查方法,用于求出相互重合的第一部件和第二部件的焊接部的截面尺寸,具备以下工序:
对第一部件照射激光,使超声波振动产生的工序;
检测经由焊接部从上述第一部件传播至第二部件的超声波振动的工序;以及
求出上述第二部件在厚度方向上的位移成为最大时所检测出的上述超声波振动的频率及波长的至少某个,根据预先求出的、上述第二部件的上述第一部件侧的面的位置上的焊接部的截面尺寸与上述超声波振动的频率及波长的至少某个之间的相关关系,求出上述焊接部的截面尺寸的工序,
将上述第二部件在厚度方向上的位移成为最大时所检测出的上述超声波振动的频率设为F,将上述焊接部的截面尺寸设为W,将传播的上述超声波振动的速度设为V时,满足以下式子:
V/5W≤F≤V/W。
11.如权利要求10记载的超声波检查方法,
在使上述超声波振动产生的工序中,照射高能量且被时间调制后的上述激光。
12.如权利要求11记载的超声波检查方法,
上述高能量且被时间调制后的上述激光是脉冲激光。
13.如权利要求10记载的超声波检查方法,
在检测超声波振动的工序中,检测通过对上述第一部件照射激光而产生的、从上述第一部件经由上述焊接部传播至上述第二部件的上述超声波振动。
14.如权利要求10记载的超声波检查方法,
在检测上述超声波振动的工序中,
向上述第二部件的表面照射激光,基于照射的上述激光和来自上述第二部件的表面的反射光产生干涉光,根据上述干涉光相对于经过时间的强度变化,检测超声波振动。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝,未经株式会社东芝许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410084662.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种双膦酸类化合物的含量测定方法
- 下一篇:用电池供电的液体分析仪的快速充电