[发明专利]用于识别电子电路中的缺陷的装置及方法

权利要求书

1.一种用于识别电子电路中的缺陷的装置，所述装置包括：

a.电路驱动模块，用以对所述电子电路施加电性测试信号；

b.缺陷探测模块，用以至少根据所施加的所述电性测试信号来识别所述电子电路中的所述缺陷；

c.信号监测模块，用以在所述电子电路处测量所述电性测试信号；以及

d.控制模块，可操作地耦合至所述信号监测模块及所述电路驱动模块，并用以根据在所述电子电路处测量的所述电性测试信号来控制至少所述电路驱动模块。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述电性测试信号通过力线被施加至所述电子电路，且其中所述信号监测模块在所述力线处测量所述电性测试信号。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述信号监测模块在电性连接至所述电子电路的返回线处测量所述电性测试信号。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述信号监测模块测量所述电性测试信号的电压。

5.如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述控制模块根据由所述信号监测模块测量的所述电性测试信号的所述电压来控制所述电路驱动模块的输出电压。

6.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述信号监测模块测量所述电性测试信号的电流。

7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述控制模块根据由所述信号监测模块测量的所述电性测试信号的电流来控制所述电路驱动模块的输出电流。

8.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制模块还根据所述缺陷探测模块的输出来控制所述电路驱动模块。

9.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制模块在预定参数范围内控制所述电路驱动模块的至少一个参数。

10.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制模块控制所述电路驱动模块的至少一个参数，以补偿由所述电路驱动模块对所述电子电路施加的所述电性测试信号的漂移。

11.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制模块控制所述电路驱动模块的至少一个参数，以补偿所述电子电路的至少一种状态的变化。

12.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制模块根据在所述电子电路处测量的所述电性测试信号，还控制所述缺陷探测模块。

13.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述信号监测模块用以在所述电子电路处连续地测量所述电性测试信号。

14.一种用于识别电子电路中的缺陷的装置，所述装置包括：

a.电路驱动模块，用以对所述电子电路施加电性测试信号；

b.缺陷探测模块，用以至少根据所施加的所述电性测试信号来识别所述电子电路中的所述缺陷；

c.信号监测模块，用以在所述电子电路处测量所述电性测试信号；以及

d.信号分析模块，可操作地耦合至所述信号监测模块，并用以分析所测量的所述电性测试信号并且判断是否已发生对所述电子电路的损坏。

15.如权利要求14所述的装置，其特征在于，所述电性测试信号通过力线施加至所述电子电路，且其中所述信号监测模块在所述力线处测量所述电性测试信号。

16.如权利要求14所述的装置，其特征在于，所述信号监测模块在电性连接至所述电子电路的返回线处测量所述电性测试信号。

17.如权利要求14所述的装置，其特征在于，所述信号监测模块测量所述电性测试信号的电压。

18.如权利要求14所述的装置，其特征在于，所述信号监测模块测量所述电性测试信号的电流。

19.一种用于识别电子电路中的缺陷的方法，所述方法包括：

a.对所述电子电路施加电性测试信号；

b.至少根据所施加的所述电性测试信号来识别所述电子电路中的所述缺陷；

c.在所述电子电路处测量所述电性测试信号；以及

d.根据在所述电子电路处测量的所述电性测试信号，控制被施加至所述电子电路的所述电性测试信号。