[发明专利]半导体装置以及测量方法

权利要求书

1.一种半导体装置，其特征在于，具备：

第1计数器，其基于第1频率的信号来进行计数动作；

第2计数器，其基于第2频率的信号来进行计数动作；以及

控制部，所述控制部根据所述第1计数器的计数值和所述第2计数器的计数值来判定所述第1频率和所述第2频率哪个较高，并以较高的一方的频率为基准来测量另一方的频率，从而计算频率比，所述控制部参照表示所述频率比与测量值的对应关系的规定的表来获取测量值。

2.根据权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，

所述控制部根据所述规定的表，基于规定值相对于测量值的比率或者所述测量值相对于所述规定值的比率来计算频率比，

所述规定值是基于所述第1频率和所述第2频率任一较高的一方而根据较高的一方的频率的信号来进行计数动作的计数器的计数，

所述测量值是相对于所述规定值的另一方的计数器的计数。

3.根据权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，

所述规定的表包括保存第2频率相对于第1频率的比率的第1区域、和保存第1频率相对于第2频率的比率的第2区域。

4.根据权利要求2所述的半导体装置，其特征在于，

所述规定的表包括保存第2频率相对于第1频率的比率的第1区域、和保存第1频率相对于第2频率的比率的第2区域。

5.根据权利要求3所述的半导体装置，其特征在于，

在所述第1频率一方较高的情况下，所述控制部参照所述第1区域，在所述第2频率一方较高的情况下，所述控制部参照所述第2区域。

6.根据权利要求4所述的半导体装置，其特征在于，

在所述第1频率一方较高的情况下，所述控制部参照所述第1区域，在所述第2频率一方较高的情况下，所述控制部参照所述第2区域。

7.根据权利要求3～6中任一项所述的半导体装置，其特征在于，

在所述第1区域保存有所述第1频率小于对所述第2频率加上规定的容许值后的值的情况下的频率比，在所述第2区域保存有所述第1频率大于对所述第2频率减去规定的容许值后的值的情况下的频率比。

8.根据权利要求1～6中任意一项所述的半导体装置，其特征在于，

所述第1计数器以及所述第2计数器向所述控制部发送规定的通知，

在接收到所述通知的情况下，所述控制部判定是所述第1计数器和所述第2计数器哪个的通知，停止未发送通知的计数器的计数。

9.根据权利要求7所述的半导体装置，其特征在于，

所述第1计数器以及所述第2计数器向所述控制部发送规定的通知，

在接收到所述通知的情况下，所述控制部判定是所述第1计数器和所述第2计数器哪个的通知，停止未发送通知的计数器的计数。

10.根据权利要求1～6、9中任意一项所述的半导体装置，其特征在于，

所述第1频率是基于基准电阻元件和电容元件的振荡的频率，所述第2频率是基于电阻值取决于环境而变化的传感器元件和所述电容元件的振荡的频率。

11.根据权利要求7所述的半导体装置，其特征在于，

所述第1频率是基于基准电阻元件和电容元件的振荡的频率，所述第2频率是基于电阻值取决于环境而变化的传感器元件和所述电容元件的振荡的频率。

12.根据权利要求8所述的半导体装置，其特征在于，

所述第1频率是基于基准电阻元件和电容元件的振荡的频率，所述第2频率是基于电阻值取决于环境而变化的传感器元件和所述电容元件的振荡的频率。