[发明专利]一种测试电路及显示面板在审

专利信息
申请号: 201410104128.2 申请日: 2014-03-19
公开(公告)号: CN103871341A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 杜鹏 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 代理人: 潘中毅;熊贤卿
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 电路 显示 面板
【权利要求书】:

1.一种测试电路,用于显示面板中,其特征在于,所述电路包括测试线路第一端子、测试线路第二端子、测试信号线、电压信号线、开关晶体管以及第一静电放电保护电路;其中,

所述测试线路第一端子,用于输出显示面板测试信号,所述测试线路第二端子用于输出用于打开或关闭所述开关晶体管的电压信号;

所述测试信号线,用于传输所述显示面板测试信号,一端与所述测试线路第一端子相连,另一端与所述开关晶体管和公共电极相连;

所述电压信号线,用于传输所述电压信号,一端与所述测试线路第二端子相连,另一端与所述开关晶体管相连;

所述开关晶体管,与所述显示面板的信号线相连,用于通过所述电压信号线接收所述测试线路第二端子输出的电压信号,并根据所述接收到的电压信号打开以使通过所述测试信号线接收的测试信号与所述显示面板的信号线导通,或者关闭以使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开;

所述第一静电放电保护电路,分别连接在所述测试信号线和所述显示面板的信号线上。

2.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述测试线路第二端子输出的电压信号包括高电压信号和低电压信号。

3.如权利要求2所述的测试电路,其特征在于,当所述开关晶体管接收到的电压信号为高电压信号时,所述开关晶体管获得大于第一预设值的电压而打开,使从所述测试信号线传输来的测试信号与所述显示面板的信号线导通;当所述开关晶体管接收到的电压信号为低电压信号时,所述开关晶体管获得小于第二预设值的电压并关闭,使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开。

4.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述显示面板的信号线为数据线或扫描线。

5.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第一静电放电保护电路包括第一晶体管和第二晶体管;其中,所述第一晶体管的栅极和漏极均连接所述测试信号线,源极连接所述显示面板的信号线;所述第二晶体管栅极和漏极均连接所述显示面板的信号线,源极连接所述测试信号线;所述第一晶体管和所述第二晶体管形成一个连通的回路。

6.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述第一静电放电保护电路还包括第一二极管和第二二极管;其中,所述第一二极管的正极与所述测试信号线相连,负极与所述显示面板的信号线相连;所述第二二极管的正极与所述显示面板的信号线相连,所述第二二极管的负极与所述测试信号线相连;所述第一二极管和所述第二二极管形成一个连通的回路。

7.如权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述测试电路还包括第二静电放电保护电路,所述第二静电放电保护电路设置在所述测试信号线上,其一端与公共电极相连,另一端与所述开关晶体管以及所述测试线路第一端子相连。

8.如权利要求7所述的测试电路,其特征在于,所述第二静电放电保护电路包括第三晶体管和第四晶体管;其中,所述第三晶体管的栅极和漏极均连接所述测试信号线,所述第三晶体管的源极连接所述第四晶体管栅极和漏极,第四晶体管的源极还连接所述公共电极;所述第三晶体管和所述第四晶体管形成一个连通的回路。

9.一种测试电路,用于显示面板中,其特征在于,所述电路包括测试线路第一端子、测试线路第二端子、测试信号线、电压信号线、开关晶体管以及驱动芯片处理单元;其中,

所述测试线路第一端子,用于输出显示面板测试信号,所述测试线路第二端子用于输出用于打开或关闭所述开关晶体管的电压信号;

所述测试信号线,用于传输所述显示面板测试信号,一端与所述测试线路第一端子相连,另一端分别与所述开关晶体管和所述驱动芯片处理单元相连;

所述电压信号线,用于传输所述电压信号,一端与所述测试线路第二端子相连,另一端与所述开关晶体管相连;

所述开关晶体管,与所述显示面板的信号线相连,用于通过所述电压信号线接收所述测试线路第二端子输出的电压信号,并根据所述接收到的电压信号打开以使通过所述测试信号线接收的测试信号与所述显示面板的信号线导通,或者关闭以使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开;

所述驱动芯片处理单元,包括至少一个驱动芯片,用于输出所述显示面板所需的相关信号。

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