[发明专利]一种测试电路及显示面板在审
申请号: | 201410104128.2 | 申请日: | 2014-03-19 |
公开(公告)号: | CN103871341A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 杜鹏 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 | 代理人: | 潘中毅;熊贤卿 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 电路 显示 面板 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种测试电路及显示面板。
背景技术
TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,薄膜场效应晶体管液晶显示器)面板传统的测试线路是和显示面板里面的信号线(如扫描线 /数据线)直接连接,完成测试后需要进行激光切割制程,切断它们的连接,显示面板才能正常点亮,传统的测试方法使得厂家生产成本较高。
为了降低生产成本,现有技术中通常使用TFT开关晶体管作为开关,连接测试线路和显示面板内部的信号线,测试时在TFT开关晶体管的栅极(Gate)端加高电压,开关晶体管TFT导通测试信号和显示面板内部的信号线,待测试完毕后,在开关晶体管TFT的Gate端加低电压,关闭测试信号,断开测试线路与显示面板内部的信号线之间的连接,显示面板可以正常的驱动工作。
通过TFT开关晶体管控制测试信号的导通和关闭,虽然可以省去激光切割的制程,达到节省成本的目的,并且测试线路远离切割线和磨边区,能够提高制程的良率,但是测试线路往往位于显示面板的外围区域,待测试完成之后,留在显示面板外围区域的测试线路会占用一部分空间。因此对窄边框的显示面板采用上述设计是非常不利的。
发明内容
本发明实施例所要解决的技术问题在于提供一种占用空间小的测试电路及显示面板,有利于窄边框显示面板的设计。
为了解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种测试电路,用于显示面板中,所述电路包括测试线路第一端子、测试线路第二端子、测试信号线、电压信号线、开关晶体管以及第一静电放电保护电路;其中,
所述测试线路第一端子,用于输出显示面板测试信号,所述测试线路第二端子用于输出用于打开或关闭所述开关晶体管的电压信号;
所述测试信号线,用于传输所述显示面板测试信号,一端与所述测试线路第一端子相连,另一端分别与所述开关晶体管和公共电极相连;
所述电压信号线,用于传输所述电压信号,一端与所述测试线路第二端子相连,另一端与所述开关晶体管相连;
所述开关晶体管,与所述显示面板的信号线相连,用于通过所述电压信号线接收所述测试线路第二端子输出的电压信号,并根据所述接收到的电压信号打开以使通过所述测试信号线接收的测试信号与所述显示面板的信号线导通,或者关闭以使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开;
所述第一静电放电保护电路,分别连接在所述测试信号线和所述显示面板的信号线上。
其中,所述测试线路第二端子输出的电压信号包括高电压信号和低电压信号。
其中,当所述开关晶体管接收到的电压信号为高电压信号时,所述开关晶体管获得大于第一预设值的电压而打开,使从所述测试信号线传输来的测试信号与所述显示面板的信号线导通;当所述开关晶体管接收到的电压信号为低电压信号时,所述开关晶体管获得小于第二预设值的电压并关闭,使所述测试信号与所述显示面板的信号线断开。
其中,所述显示面板的信号线为数据线或扫描线。
其中,所述第一静电放电保护电路包括第一晶体管和第二晶体管;其中,所述第一晶体管的栅极和漏极均连接所述测试信号线,源极连接所述显示面板的信号线;所述第二晶体管栅极和漏极均连接所述显示面板的信号线,源极连接所述测试信号线;所述第一晶体管和所述第二晶体管形成一个连通的回路。
其中,所述第一静电放电保护电路还包括第一二极管和第二二极管;其中,所述第一二极管的正极与所述测试信号线相连,负极与所述显示面板的信号线相连;所述第二二极管的正极与所述显示面板的信号线相连,所述第二二极管的负极与所述测试信号线相连;所述第一二极管和所述第二二极管形成一个连通的回路。
其中,所述测试电路还包括第二静电放电保护电路,所述第二静电放电保护电路设置在所述测试信号线上,其一端与公共电极相连,另一端与所述开关晶体管以及所述测试线路第一端子相连。
其中,所述第二静电放电保护电路包括第三晶体管和第四晶体管;其中,所述第三晶体管的栅极和漏极均连接所述测试信号线,所述第三晶体管的源极连接所述第四晶体管栅极和漏极,第四晶体管的源极还连接所述公共电极;所述第三晶体管和所述第四晶体管形成一个连通的回路。
本发明实施例还提供了一种测试电路,用于显示面板中,所述电路包括测试线路第一端子、测试线路第二端子、测试信号线、电压信号线、开关晶体管以及驱动芯片处理单元;其中,
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