[发明专利]一种基于SHWS的相位显微镜成像方法

权利要求书

1.一种基于SHWS的相位显微镜成像方法，包括如下步骤：

（1）针对不放样品和放样品两种情况，利用SHWS进行探测得到两种情况下各角度光线对应的Hartmanngram；

（2）根据所述的Hartmanngram计算上述两种情况下SHWS前透镜方阵中每一透镜在各角度光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的质心分布；

（3）根据所述的质心分布计算出各角度光线通过每一透镜后的波前斜率；

（4）根据所述的波前斜率利用区域迭代法估计每一透镜对各角度光线成像所引入的波前相位，进而得到对应各角度光线的波前相位方阵；

（5）根据所述的波前相位方阵利用FBP法对样品进行三维断层折射率重建，得到样品各切片对应的折射率方阵。

2.根据权利要求1所述的相位显微镜成像方法，其特征在于：所述的步骤（2）中，根据以下算式计算质心分布：

Xm,n,θ=Σi,jM,Nxm,n,θ(i,j)Im,n,θ(i,j)Σi,jM,NIm,n,θ(i,j),Yk,θ=Σi,jM,Nym,n,θ(i,j)Im,n,θ(i,j)Σi,jM,NIm,n,θ(i,j)]]>

其中：X_m,n,θ和Y_m,n,θ分别为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的质心分布横向分量和质心分布纵向分量，x_m,n,θ(i,j)和y_m,n,θ(i,j)分别为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口内第i行第j列象元的横坐标和纵坐标，I_m,n,θ(i,j)为透镜方阵中第m行第n列透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口内第i行第j列象元的信号强度，i、j、m和n均为自然数且1≤i≤M，1≤j≤N，1≤m≤L，1≤n≤L，M和N分别为透镜方阵中第k透镜在θ°光线对应的Hartmanngram中对应探测窗口的行数和列数，L为透镜方阵的维度，θ为角度。